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探針臺維修保養(yǎng)2018/8/24

探針臺維修保養(yǎng)探針臺用途：手動探針臺的主要用途是為半導(dǎo)體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容...

Smart-1 Auto Curve Tracer2018/8/8

Smart-1AutoCurveTracer測試通道:基本64ch,標(biāo)準(zhǔn)256通道，大可擴(kuò)充至4096ch機(jī)臺功能:元器件開短路量測以及良品不良品比對元器件IV曲線量測以及良品不良品比對元器件漏電量測...

光束誘導(dǎo)電阻變化OBIRCH2018/8/8

OBIRCH（光束誘導(dǎo)電阻變化）.結(jié)論性意見,因此，本項(xiàng)目擬新增1臺集成光子分析儀，用以滿足國軍標(biāo)###方法5003篩選程序規(guī)定的篩選項(xiàng)目。光子發(fā)射顯微鏡是一種模塊化的設(shè)計(jì)，它以人性化綜合控制系統(tǒng)為中...

半導(dǎo)體失效分析常用設(shè)備及實(shí)驗(yàn)室選擇2018/8/8

半導(dǎo)體失效分析常用設(shè)備及實(shí)驗(yàn)室選擇一般來說，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，芯片失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路...

半導(dǎo)體分析設(shè)備介紹2018/8/1

半導(dǎo)體分析設(shè)備介紹儀準(zhǔn)科技有限公司是一家專業(yè)的半導(dǎo)體分析設(shè)備的整合商，產(chǎn)品涵蓋半導(dǎo)體、LCD(TFT)、LED、太陽能等高科技領(lǐng)域。主營產(chǎn)品有手動探針臺Probestation，激光開封機(jī)Laserd...

半導(dǎo)體測試設(shè)備列表2018/8/1

半導(dǎo)體測試設(shè)備列表儀準(zhǔn)科技有限公司是一家專業(yè)的半導(dǎo)體分析設(shè)備的整合商，產(chǎn)品涵蓋半導(dǎo)體、LCD(TFT)、LED、太陽能等高科技領(lǐng)域。主營產(chǎn)品有手動探針臺Probestation，激光開封機(jī)Laserd...

普通企業(yè)失效分析如何進(jìn)行2018/7/5

針對失效分析企業(yè)該如何做？一、培養(yǎng)失效分析隊(duì)伍難做不等于不能做。對于絕大多數(shù)企業(yè)而言，根據(jù)自己的實(shí)力來裝備培養(yǎng)自己失效分析隊(duì)伍也是需要的。一般的企業(yè)做失效分析可以先配備一個晶體管圖示儀，好點(diǎn)的國產(chǎn)貨也...

講清楚了元器件失效分析方法2018/7/5

元器件失效分析方法，這次講清楚了！2018年失效分析技術(shù)分享活動儀準(zhǔn)科技自2012年在北京建立以來一直受到半導(dǎo)體行業(yè)內(nèi)同行們的支持與鼓勵這6年來有贊美有夸獎有磕絆也有不足；感謝大家一直以來的包容與支持...

電測失效可分為連接性失效、電參數(shù)失效和gong能失效2018/7/5

電測失效可分為連接性失效、電參數(shù)失效和gong能失效。連接性失效包括開路、短路以及電阻值變化。這類失效容易測試，現(xiàn)場失效多數(shù)由靜電放電（ESD）和過電應(yīng)力（EOS）引起。電參數(shù)失效，需進(jìn)行較復(fù)雜的測量...

x光無損檢測實(shí)驗(yàn)室2018/7/4

半導(dǎo)體元器件失效分析測試X光檢測設(shè)備半導(dǎo)體元器件X光檢測xrayFeinfocus作為高分辨率X光檢測設(shè)備研發(fā)、設(shè)計(jì)和制造系統(tǒng)供應(yīng)商，是1982年zui早成立于德國的系統(tǒng)供應(yīng)商；現(xiàn)有超過2800臺Fe...

場發(fā)射電子顯微鏡測試設(shè)備介紹2018/7/4

場發(fā)射電子顯微鏡測試設(shè)備介紹，電子顯微鏡測試設(shè)備介紹SEM日本Hitachi在電子顯微鏡領(lǐng)域一向以技術(shù)潮流著稱：1972年發(fā)布臺場透射電子微鏡，經(jīng)過30多年的發(fā)展，日立開發(fā)、應(yīng)用了大量的新技術(shù)，例如電...

自動雙酸開封機(jī)采購調(diào)研2018/7/4

RKD酸開封機(jī)，RKDELITEETCH自動雙酸開封機(jī)酸開封機(jī)采購調(diào)研-創(chuàng)新的軟件-動態(tài)刻蝕時間調(diào)節(jié)-多酸沖洗選項(xiàng)-占地面積小酸開封機(jī)采購調(diào)研美國RKD生產(chǎn)的EliteEtch是yi臺自動混酸開封機(jī)，...

探針臺操作說明2018/7/4

探針臺操作說明目錄1、探針臺的功能42、探針臺硬件結(jié)構(gòu)53、各部件的具體使用方法64、常見故障維護(hù)與支持161、探針臺的功能（1）集成電路失效分析（2）晶圓可靠性認(rèn)證（3）元器件特性量測（4）塑性過程...

芯片開封設(shè)備選擇2018/6/28

開封指去除ic封膠，同時保持芯片功能的完整無損,保持die,bondpads,bondwires乃至lead-frame不受損傷,為下yi步芯片失效分析實(shí)驗(yàn)做準(zhǔn)備。也稱為開蓋，開帽,去封范圍：普通封裝...

微光顯微鏡emmi測試說明2018/6/28

失效分析設(shè)備，失效分析實(shí)驗(yàn)室建設(shè)，儀準(zhǔn)科技自主研發(fā)生產(chǎn)的微光顯微鏡，就半導(dǎo)體元器件故障失效分析而言，微光顯微鏡EMMI是一種相當(dāng)有用且效率*的分析工具。主要偵測IC內(nèi)部所放出光子。在IC元件中，EHP...