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x光設備技術標準2019/2/14

x光設備11月份安裝，預計1月份對外服務，X光檢測設備工作人員正在對新設備安裝調(diào)試，1月份可以對外服務。Feinfocus作為高分辨率X光檢測設備研發(fā)、設計和制造系統(tǒng)供應商，是1982年成立于德國的系...

新款的FIB技術分析2019/2/14

新款的FIB技術分析新款的FIB設備已經(jīng)到位，功能*預計1月份面向社會服務數(shù)據(jù)表Scios2DualBeam通用型高性能雙束系統(tǒng)Scios2DualBeam提供佳的樣品制備、內(nèi)部及三維表征性能，可滿足...

手動探針臺常見問題解答2019/2/14

手動探針臺常見問題解答2019年悄然到來，新年新氣象，開年伊始就收到很多朋友對手動探針臺使用問題的咨詢，在此收集整理供手動探針臺相關信息供大家參考。因經(jīng)驗有限，有說的不合適的地方，望大家指正。一：手動...

高低溫箱測試試驗沒你想的那么簡單2019/2/14

低溫對產(chǎn)品的影響·橡膠等柔韌性材料的彈性降低，并產(chǎn)生破裂；··金屬和塑料脆性增大，導致破裂或產(chǎn)生裂紋；··由于材料的收縮系數(shù)不同，在溫變率較大時，會引起活動部件卡死或轉(zhuǎn)動不靈；··潤滑劑粘性增大或凝固...

電子元器件失效分析2019/2/14

電子元器件失效分析，由于#近在做這方面的事情，所以想跟大家一起來學習下，電子元器件失效狀況的分析，其實我們在工作中都會遇到有元器件失效的情況，一般需要借助相關工具或者儀器設備來分析，很多時候，我們遇到...

探針臺如何選怎么用2018/12/5

探針臺如何選怎么用推動集成電路產(chǎn)業(yè)發(fā)展，探針臺功不可沒。高校研究所做科研離不開探針臺，尤其是涉及到精密器件失效分析，電性能測試，那么平時采購探針臺時，怎樣才能選到趁手的設備。首先明確自己測試要求:待測...

Emmi微漏電偵測系統(tǒng)組成2018/10/10

Emmi微漏電偵測系統(tǒng)簡介Emmi微漏電偵測系統(tǒng)是失效分析領域在破壞性分析過程中*的一項分析手段，其原理為利用紅外線探測器，偵測IC或者元器件的漏電發(fā)光位置，為芯片漏電分析做出準確定位。2、Emmi微...

ADVANCED Smart-1 Auto Curve Tracer2018/10/10

Smart-1AutoCurveTracer測試通道:基本64ch,標準256通道，*可擴充至4096ch機臺功能:元器件開短路量測以及良品不良品比對元器件IV曲線量測以及良品不良品比對元器件漏電量測...

掃描電鏡使用2018/10/10

掃描電鏡操作19.平時操作，若要將樣品室真空亦保持在10-8pa(10-10torr)，則抽真空的時間將變長而降低儀器的便利性，更增加儀器購置成本，因此一些儀器設計了階段式真空(stepvacuum)...

掃描電鏡使用領域2018/10/10

掃描電鏡應用，掃描電鏡是一種多功能的儀器、具有很多*的性能、是用途*為廣泛的一種儀器．它可以進行如下基本分析：1、觀察納米材料：其具有很高的分辨率，可以觀察組成材料的顆?；蛭⒕С叽缭?.1-100nm...

如何保養(yǎng)探針臺2018/10/10

探針臺維修保養(yǎng)探針臺用途：手動探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電容...

探針臺的使用方式2018/10/9

探針臺的使用方式：1.將樣品載入真空卡盤，開啟真空閥門控制開關，使樣品安全且牢固地吸附在卡盤上。2.使用卡盤X軸/Y軸控制旋鈕移動卡盤平臺，在顯微鏡低倍物鏡聚焦下看清楚樣品。3.使用卡盤X軸/Y軸控制...

集成電路光刻膠去除技術2018/8/24

1集成電路是整個信息產(chǎn)業(yè)的基礎，是實現(xiàn)中國制造2025的關鍵，而圖形化工藝又是集成電路制造的核心工藝。光刻膠去除是圖形化工藝中的關鍵技術，其中光刻膠去除劑是決定光刻膠去除甚至圖形化工藝*終良率及可靠性...

半導體行業(yè)概述及產(chǎn)業(yè)鏈分析2018/8/24

半導體設備需求不及預期；國產(chǎn)半導體設備技術突破不及預期；行業(yè)政策支持力度不及預期；下游產(chǎn)能投產(chǎn)進度不及預期；相關重點公司未來業(yè)績不及預期。1、半導體設備是什么？1.1、半導體行業(yè)概述及產(chǎn)業(yè)鏈分析半導體...

探針臺的操作2018/8/24

探針臺的操作方法探針臺用途：手動探針臺的主要用途是為半導體芯片的電參數(shù)測試提供一個測試平臺，探針臺可吸附多種規(guī)格芯片，并提供多個可調(diào)測試針以及探針座，配合測量儀器可完成集成電路的電壓、電流、電阻以及電...