華兆科技(廣州)有限公司
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更新時間:2026-09-20 08:41:33瀏覽次數(shù):164次
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Hesper TO230R 單片減壓原位濕法氧化系統(tǒng)適用于集成電路、功率半導體、襯底材料、科研等領域,單腔或多腔多種設計,可滿足不同客戶需求,低擁有成本和低運營成本。
設備特點
•16 區(qū)加熱設計,保障溫場均勻性
設備采用 16 個獨立加熱區(qū)的設計,每個加熱區(qū)可通過精準控溫算法單獨調節(jié)功率:通過對爐內不同區(qū)域的溫度進行細分控制,有效減少爐內溫度差異,使溫場均勻性保持在良好水平。這種設計對濕法氧化工藝至關重要 —— 二氧化硅的生長速率與溫度直接相關,均勻的溫場能確保晶圓各區(qū)域(從中心到邊緣)的氧化反應速率一致,避免出現(xiàn)局部氧化層過厚、過薄或質量不均的問題,最終保障二氧化硅層的厚度精度與性能穩(wěn)定性。
•單腔 / 多腔靈活選擇,適配不同需求
針對不同客戶的產能規(guī)劃與應用場景,設備提供兩種腔室配置:
單腔配置:結構相對簡潔,適合實驗室研發(fā)、小批量試產或對產能需求較低的場景,可降低客戶初始設備采購成本,同時便于針對特定工藝進行參數(shù)調試;
多腔配置:集成多個獨立工藝腔,各腔室可同步運行相同或不同工藝,大幅提升整體產能,適配集成電路、功率半導體領域的規(guī)模化量產需求,減少產線設備占地面積。
低擁有成本與低運營成本,兼顧經濟性
低擁有成本:設備設計簡化了部分復雜配套組件,初始采購成本更具優(yōu)勢,同時無需大規(guī)模改造廠房即可安裝調試,減少前期基建投入;
低運營成本:通過優(yōu)化加熱系統(tǒng)能耗、采用易維護的部件設計(如關鍵組件模塊化,更換便捷),降低日常能耗支出與維護成本;此外,工藝過程中試劑利用率較高,減少耗材浪費,進一步壓縮運營成本。
•友好的人機交互與安全性設計,保障穩(wěn)定高效
人機交互方面:設備配備直觀的操作界面,工作人員可便捷地設置工藝參數(shù)(如溫度、壓力、氧化時間),同時支持工藝數(shù)據(jù)存儲與追溯,降低操作復雜度,減少人為操作誤差;
安全性設計方面:集成多重安全保護功能,包括異常溫度報警、壓力超限保護、試劑泄漏檢測及緊急停機裝置,可實時監(jiān)測設備運行風險,及時響應突發(fā)狀況,既保障操作人員安全,又避免因異常情況導致設備損壞或工藝中斷,確保系統(tǒng)長期穩(wěn)定、高效運行。
產品應用
•晶圓尺寸適配:12 英寸單片處理
設備專為 12 英寸晶圓設計,從工藝腔室尺寸、晶圓傳輸軌道寬度到加熱區(qū)域覆蓋范圍,均針對 12 英寸晶圓的物理特性(直徑 300mm)優(yōu)化:傳輸系統(tǒng)可穩(wěn)定承載 12 英寸晶圓,避免傳送過程中出現(xiàn)偏移或劃傷;加熱區(qū)域能完整覆蓋晶圓表面,確保全片溫場均勻,適配當前 12 英寸晶圓在集成電路、功率半導體領域的主流應用需求,無需對設備進行大規(guī)模改造即可處理該尺寸晶圓。
•適用材料:二氧化硅制備
核心用于二氧化硅的濕法氧化制備,二氧化硅是半導體制造中的核心材料 —— 在集成電路中常用作器件間的絕緣層,避免信號干擾;在功率半導體中可提升器件的耐壓性;在襯底材料領域可作為襯底表面的保護層或預處理層。設備通過減壓原位濕法氧化工藝,能制備出純度高、致密性好的二氧化硅層,滿足不同領域對二氧化硅材料的性能要求。
•適用工藝:濕法氧化與減壓 Spike
濕法氧化:在減壓環(huán)境下,通過通入氧化劑(如氧氣與水蒸氣的混合氣體)與硅晶圓表面發(fā)生反應,生成二氧化硅層。減壓環(huán)境可減少氧化過程中氣泡的產生,提升二氧化硅層的致密性與平整度,同時控制氧化速率,確保氧化層厚度精準;
減壓 Spike:一種快速升溫 - 降溫的輔助工藝,常用于濕法氧化后對二氧化硅層進行處理 —— 通過短暫的高溫處理(在減壓環(huán)境下避免氧化層損傷),優(yōu)化二氧化硅層的微觀結構,減少缺陷,提升其絕緣性能與與硅基底的結合力,進一步優(yōu)化器件可靠性。
•適用領域延伸
集成電路領域:用于邏輯芯片、存儲芯片(如 DRAM、NAND)制造中絕緣層、掩膜層的二氧化硅制備,保障芯片內部器件的電氣隔離與光刻工藝的精度;
功率半導體領域:為硅基功率器件(如 IGBT、MOSFET)制備高質量二氧化硅層,提升器件的耐壓等級與長期工作穩(wěn)定性;
襯底材料領域:對硅襯底進行表面氧化處理,形成二氧化硅保護層,或為后續(xù)薄膜沉積工藝提供優(yōu)質基底,提升襯底材料的使用性能;
科研領域:支持實驗室對濕法氧化工藝的參數(shù)探索(如不同壓力、溫度對二氧化硅質量的影響),為新型半導體材料或器件的研發(fā)提供工藝設備支持。
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