摘要 東京精密C1600G輪廓度儀具有自動要素判定功能（AI功能）,無需指定點、直線、圓等要素即可進行自動判定。

摘要 東京精密1600D精密形狀掃描機無需指定點、直線、圓等要素即可進行自動判定

摘要 東京精密C1710DX2輪廓度儀采用線性馬達，精度大幅度提高，達到了可以用來測量模具等精密零部件的高精度。

摘要 泰勒Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測量表面形貌、表面粗糙度及關鍵尺寸，并計算關鍵部位的面積和體積。

摘要 泰勒表面粗糙度輪廓儀Form Talysurf Inductive是精度高電感式粗糙度輪廓儀，可編程自動操作，便于批量測試，模塊化設計能滿足不同應用。

摘要 KOSAKA表面粗糙度輪廓儀SEF-3500一機兩用，可進行表面粗糙度和輪廓形狀測量。

摘要 日本KOSAKA探針式輪廓儀T4000具有精確性高、穩(wěn)定性和重復性。

摘要 輪廓標試驗儀用于用于輪廓標密封性能測試。適用于我國公路、橋梁及隧道、城市道路、其他道路或停車場等設置的輪廓標的耐密封性測試。滿足規(guī)范GB/T 24970-2010 輪廓標。

摘要 新型Sneox在性能、功能、效率和設計方面優(yōu)于現(xiàn)有的3D光學輪廓儀，是Sensofar 的新一代測量系統(tǒng)。

摘要儀器名稱：白光干涉儀（非接觸式3D表面輪廓儀）型號：NewView7100白光干涉儀美國ZYGO白光干涉儀3D表面輪廓儀NewView7100檢測項目：表面粗糙度+三維形貌臺階高度/斷差+三維形貌樣品的三坐標測量+三維形貌應用范圍：測試樣品表面的粗糙度和三維形貌;材料...

摘要 中圖儀器SuperView WT3000系列白光共聚焦輪廓儀，已成功服務半導體、3C電子、光學加工、微納制造等多領域客戶，實測效果獲高度認可.

摘要 CV3000CNC/CV4000CNC 三豐輪廓度檢測儀，進口輪廓度儀，大尺寸輪廓檢測儀

摘要 CV3100/4100輪廓度測試儀，輪廓檢測儀

摘要 CV2000 Contracer輪廓度測量儀，輪廓度檢測儀，三豐輪廓度儀

摘要 *的高精度輪廓測量儀?CV-3200/4500系列是在Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀

摘要 *的高精度輪廓測量儀?CV-3200/4500系列是在Z1軸(檢出器)上配有高精度弧形光柵尺和新型測臂的輪廓測量儀

摘要 實現(xiàn)『簡便·準確·快速』測量的輪廓形狀測量儀——CV2100?與測量操作相關的配置集中設置在主機前面，大幅減少了操作流程

摘要 Elcometer224數(shù)字表面輪廓儀|Elcometer224數(shù)字表面輪廓儀價格-啟航檢測科技（上海）有限公司 Elcometer224數(shù)字表面輪廓儀提供了新的表面粗糙度測量技術

摘要 產(chǎn)品表面質(zhì)量測量、繪圖表面形貌的3D形貌圖PSD技術便攜、使用方便全新的OPTIMAPTM標志著控制表面質(zhì)量的一場革命

摘要簡單介紹： T1000 “世紀星”小型粗糙度輪廓儀 德國霍米爾面向21世紀的新一代小型粗糙度輪廓儀；測量精度：3%；粗糙度參數(shù): Ra, Rz, Rmax, Rt, Rpc, Rp, Rpm, Rq, R3z, RSm, Rmr/即tp參數(shù)；珩磨網(wǎng)紋粗糙度參數(shù): Rk...

摘要該型號是FRT公司*近更新的產(chǎn)品，F(xiàn)RT三維輪廓測量儀在原有 TG/CF型號型號上，測量功能更加*。除了用于測量零件外形輪廓的幾何尺寸(點線，角度等)；共面性、平面度、平行度等；還可以測量表面粗糙度. 其特點是采用非接觸無損測量，有效保護零件的表面；提供完整的2D和3...

摘要 產(chǎn)品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。

摘要 產(chǎn)品描述：ContourGT-X是實驗室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。

摘要 產(chǎn)品描述：Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品

摘要 產(chǎn)品描述：ContourGT-I集多項檢測功能于一身，成為桌上型定量測試儀器。

摘要 產(chǎn)品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。

摘要 產(chǎn)品描述：ContourGT-X是實驗室開發(fā)到批量生產(chǎn)均可適用的儀器。

摘要 產(chǎn)品描述：Dektak XTL探針式輪廓儀系統(tǒng)可容納多大350mm*350mm的樣品

摘要 產(chǎn)品描述：ContourGT-I集多項檢測功能于一身，成為桌上型定量測試儀器。

摘要T&S Gesellschaft für L?ngenprüftechnik mbHT&S Gesellschaft für L?ngenprüftechnik mbHRhonstrase 2a97490 PoppenhausenDeutschlandTel. +49...

摘要 赤象工業(yè)提供T&S產(chǎn)品技術選型,現(xiàn)場安裝調(diào)試,技術培訓以及售后維修赤象工業(yè)提供CounturoMatic產(chǎn)品技術選型,現(xiàn)場安裝調(diào)試,技術培訓以及售后維修赤象工業(yè)提供ts-messtechnik產(chǎn)品技術選型,現(xiàn)場安裝調(diào)試,技術培訓以及售后維修

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵PMP成像技術原理運用相位調(diào)制輪廓測量技術（PMP）實現(xiàn)對精密印刷焊錫膏的三維測量，在保證高速測量的同時，大幅度的提高測量精度

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵（PSLM）技術獨立研發(fā)制造的可編程結構光柵(PSLM)技術形成全光譜結構光柵，相比傳統(tǒng)固定玻璃摩爾紋光柵，實現(xiàn)了對結構光柵的軟件調(diào)制及控制；大大提高了設備的檢測能力和適用范圍

摘要 核心技術及特點可編程結構光柵（PSLM）技術獨立研發(fā)制造的可編程結構光柵(PSLM)技術形成全光譜結構光柵，相比傳統(tǒng)固定玻璃摩爾紋光柵，實現(xiàn)了對結構光柵的軟件調(diào)制及控制；大大提高了設備的檢測能力和適用范圍