摘要 中圖儀器SJ5700DUAL內(nèi)外螺紋尺寸粗糙度輪廓測量儀以“三位一體”集成設(shè)計與高精度核心技術(shù)，一站式解決多參數(shù)測量痛點，成為B端企業(yè)提質(zhì)增效的核心質(zhì)控裝備。

摘要 DeFelsko公司是美國的涂層測厚儀和檢測儀器制造商，自1965年以來一直提供簡單、耐用和準確的測厚儀。

摘要 德國Mahr輪廓測量儀MarSurf VD 140具有更短的測量時間可靠的測量站，用于輪廓測量

摘要 EWIG輪廓形狀測量儀裝置KCT-6000EH-2000,EH-5500W,MTY-7000,EH-1000,EH-5000,EH-8000,EH-3500,EH-5100,CE-001

摘要 赫爾納-供應(yīng)ttzh輪廓儀分析ttzh輪廓儀主要的產(chǎn)品銷售包括：摩擦計，2D / 3D表面輪廓儀，濺射靶，碳化鎢工件，球，機器部件和材料測試儀等等。ttzh輪廓儀的建議和選擇一直如一，以確保高科技產(chǎn)品的高質(zhì)量和穩(wěn)定性。

摘要 優(yōu)可測封裝基板3D自動檢測設(shè)備超快掃描速度：垂直掃描速度，是傳統(tǒng)機型的5倍； 全自動測量：極簡操作，輕松在線編程設(shè)定，自動測量； 離線分析：可調(diào)取原始數(shù)據(jù)進行二次特定分析； 離線編輯：通過ODB++程序進行離線編輯 （選購）； 豐富的測量功能。

摘要優(yōu)可測晶圓三維量測設(shè)備 WPM系列白光干涉、光譜反射、光譜共焦三合一！ 編程測量：智能陣列、自動測量，自動對焦，自動定位Data Feedback數(shù)據(jù)庫管理； 易用性高，自動重測，數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析更多分析功能，報告一鍵生成； 更多功能：數(shù)據(jù)統(tǒng)計分析等精益制造模塊支持定制開...

摘要 優(yōu)可測白光干涉儀 AM-7000系列搭配大量程高速納米壓電陶瓷器件，掃描速度400um/秒，3200Hz加SST+GAT算法，可瞬間完成500萬點云采集。

摘要 優(yōu)可測白光干涉儀AM-7000可用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量，以“面”的形式獲取表面3D形貌，通過專用軟件對3D形貌進行處理和分析，RMS重復(fù)性可達0.002nm。

摘要 優(yōu)可測白光干涉儀AM7000系列是一種高精度測量儀器，能夠?qū)ξ矬w表面的粗糙度、光潔度、輪廓及微觀三維形貌等進行精確測量，其精度可達亞納米級別。該設(shè)備采用高速壓電陶瓷單元驅(qū)動，精度高達0.03nm，掃描速度快，適用于新能源、半導(dǎo)體、精密光學(xué)、航空航天等多個領(lǐng)域。

摘要自動化粗糙度臺階三維形貌白光干涉儀AM8000系列在實現(xiàn)高精度測量同時，擁有更高效的智能操控，可一鍵自動尋找工件、對焦、調(diào)平，XY軸測量范圍可達300×300mm，滿足Mapping多點位測量、非球面K值測量等需求。對比AM-7000系列，AM-8000系列...

摘要白光干涉儀AM-7000系列可用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量，以“面”的形式獲取表面3D形貌，通過專用軟件對3D形貌進行處理和分析，RMS重復(fù)性可達0.002nm。AM-7000搭配大量程高速納米壓電陶瓷器件，掃描速度400um/秒，3200Hz加以SS...

摘要特點：?性能和成本的平衡，具有性價比?低噪數(shù)字式輪廓傳感器?大量程高精度輪廓測量、微觀輪廓度測量測量原理本儀器測量原理為直角坐標測量法，即通過X軸、Z1軸傳感器，測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點，通過電器組件，將傳感器所測量的坐標點數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機，軟件對所采集的...

摘要 WGL光電輪廓儀 光電輪廓儀的應(yīng)用范圍很廣，它主要用于測量各種精密加工零件表面的微觀三維結(jié)構(gòu)，如表面粗糙度；零件表面的刻線；刻槽的深度和鍍層的厚度等

摘要 產(chǎn)品簡介輪廓儀測量原理為直角坐標測量法，即通過X軸、Z軸傳感器，測繪出被測零件的表面輪廓的坐標點，通過電器組件，將傳感器所測量的坐標點數(shù)據(jù)傳輸?shù)缴衔籔C機，軟件對所采集的原始坐標數(shù)據(jù)進行數(shù)學(xué)運算處理，標注所需的工程測量項目

摘要 背景3D表面輪廓是產(chǎn)品功能的關(guān)鍵參數(shù)，會影響產(chǎn)品的整體性能

摘要 怎樣選紡織材料拉伸儀沒有一臺紡織儀器可以用來測量所有的紡織材料的拉伸性能

摘要3D光學(xué)輪廓測量儀使用Sensofar技術(shù)開發(fā)的neox光學(xué)輪廓儀，其共聚焦部分的主要優(yōu)點是有著*發(fā)光效率的照明硬件和高對比度算法。這些特點使系統(tǒng)成為測量有著陡峭斜面、粗糙的、反光表面和含有異種材料樣品的理想設(shè)備。高品質(zhì)干涉光學(xué)系統(tǒng)和集成壓電掃描器是干涉輪廓儀部分的關(guān)...

摘要 二維光學(xué)輪廓測量儀能滿足不同企業(yè)的測量需求；此外測量數(shù)據(jù)可導(dǎo)入EXCEL、WORD中或者將測量圖形輸出至TXT文檔制作CAD設(shè)計，儀器采用手動連續(xù)變倍鏡頭，可以高效的實現(xiàn)對較大工件各項復(fù)雜的數(shù)據(jù)進行準確測量。

摘要 快速輪廓尺寸測量儀對曲軸這種復(fù)雜工件進行質(zhì)量控制，可能還需要一個環(huán)境受控的空間。VICIVISION開發(fā)出了專用于曲軸測量的專用軟件工具，能夠提供精度的尺寸控制結(jié)果，為曲軸偏心連桿頸的特定尺寸測量提供了有效的解決方案。

摘要輪廓尺寸形貌測量儀和質(zhì)量控制系統(tǒng)，提高客戶的生產(chǎn)效率，是車削測量技術(shù)領(lǐng)域的關(guān)鍵參與者之一。其客戶群廣泛分布在機加工中心到汽車行業(yè)，以及醫(yī)療和牙科行業(yè)。MTP閃測測量儀，專為平面快速測量而設(shè)計的光學(xué)測量儀。測量系統(tǒng)易于使用，測量速度快，一次可測量多片產(chǎn)品，在保證精準度與...

摘要材料表面3D輪廓儀具有專業(yè)的測量能力，可在幾秒內(nèi)就完成整個視場的掃描得到測量樣品的3D圖形與高度數(shù)據(jù)，檢測速度與深度量測能力優(yōu)于逐點逐面掃描的共焦掃描顯微鏡，3D圖形量測能力又優(yōu)于掃描式電子顯微鏡的2D平面檢測能力，且不需要使用電子束或雷射，開機快又安全，維護成本更低...

摘要明察智新720°連接器AOI檢測設(shè)備，專為連接器Pin針/探針/端子及組件設(shè)計。它深度融合了激光干涉測量、多模態(tài)光學(xué)成像與非接觸精密檢測技術(shù)，通過多工位精選鏡頭、高分辨率相機、特別設(shè)計的光學(xué)光路系統(tǒng)以及檢測算法，實現(xiàn)對外形外觀、尺寸測量、端面狀態(tài)及內(nèi)部缺陷的...

摘要 日本三豐 FORMTRACER Avant FTA 系列將粗糙度與輪廓形狀測量合二為一，一臺設(shè)備替代粗糙度儀與輪廓儀兩套裝備，分辨力可達 0.0001μm，支持 JIS/ISO/ANSI/VDA 多標準評價并可接入 MeasurLink 做 SPC 統(tǒng)計。

摘要秋毫R系列 晶圓微透鏡玻璃V槽激光干涉3D輪廓儀，專為晶圓、微透鏡、玻璃V槽、精密光學(xué)及材料檢測設(shè)計。全場單次成像，亞納米精度，效率遠超傳統(tǒng)掃描方案。支持粗糙度、臺階、膜厚、劃傷等全面分析。革新了傳統(tǒng)光學(xué)輪廓儀（如白光干涉儀、共聚焦顯微鏡）依賴逐點或逐幀掃描流程。它采...

摘要 高精度的輪廓測量，Z方向1m以下的測量。（變位5mm時）自動要素判定功能（AI功能）無需點、直線、圓等要素即可進行自動判定。尺寸顯示功能可在測量圖上顯示參數(shù)、幾何偏差等實測值。形狀合成功能合成功能解消了因測針角度而使分析范圍受限的問題。

摘要 通過演示回放功能可以自動進行從測量到采用數(shù)據(jù)粘貼制作檢查成績書等一系列操作。Z高測量速度達20mm/s，Z大移動速度達60mm/s，速度如此之快大大提高了測量效率。

摘要無需點、直線、圓等要素即可進行自動判定。尺寸顯示功能可在測量圖上顯示參數(shù)、幾何偏差等實測量值。形狀合成功能合成功能解消了因測針角度而使分析范圍受限的問題峰值谷值搜尋功能可由測針軌跡檢測出工件的Z大點，容易進行對準。計算點的重復(fù)功能具有重復(fù)形狀的工件只需分析1個圖案便可...

摘要 T8000 SC 測量儀配置了分辨度*的探測系統(tǒng)，同時測量粗糙度和輪廓，幾何參數(shù)以及粗糙度特征數(shù)據(jù)在一個流程中評價此測量系統(tǒng)性價比出色，測量功能和應(yīng)用范圍*可以和復(fù)雜的試驗室測量系統(tǒng)媲美。

摘要 中圖儀器SJ5700DUAL輪廓儀檢測無人機槳葉前后緣輪廓，憑借自適應(yīng)變速測量+智能恒測力兩大核心技術(shù)，能穩(wěn)定應(yīng)對各種曲率突變的復(fù)雜形貌：前緣后緣精準捕捉不掛針，平緩區(qū)域高效掃掠不降速。

摘要 SJ5700DUAL雙向掃描輪廓儀檢測復(fù)雜曲面輪廓，智能變速模式，最高可達20mm/s，根據(jù)表面曲率自動調(diào)節(jié)，兼顧精度與效率。

摘要 SJ5700DUAL雙向掃描輪廓儀一體化檢測粗糙度輪廓度支持CNC固定坐標系下的矩陣批量測量。超大量程：X軸行程可選200mm至400mm（全程光柵），Z軸行程同步匹配，滿足各種大型工件的測量需求。

摘要 SJ5700DUAL雙向掃描輪廓儀檢測內(nèi)外輪廓、螺紋參數(shù)，同時可覆蓋精密軸承、航空航天精密結(jié)構(gòu)件的形貌檢測，支持根據(jù)工件形態(tài)定制專屬夾具與測量路徑。

摘要 他們?yōu)槟峁┝可矶ㄖ频妮喞獪y量設(shè)備，即使在困難的條件下也可以進行精確的測量?？梢杂门c大型笨重組件相同的方法來測量微組件的輪廓，粗糙度或圓度。

摘要 用于同時測量尺寸、形狀和表面粗糙度，曲率、傾角、粗糙度和波紋度等。Form Talysurf Intra只需一遍，即可檢測和評估所有元素。該儀器擁有堅固耐用的外殼。實用中可做到長時間無需保養(yǎng)維護亦可保持精準。其

摘要光電輪廓儀的應(yīng)用范圍很廣，它主要用于測量各種精密加工零件表面的微觀三維結(jié)構(gòu)，如表面粗糙度；零件表面的刻線；刻槽的深度和鍍層的厚度等。具體地說，如量塊、光學(xué)零件表面的粗糙度；標尺、度盤的刻線深度；光柵的槽形結(jié)構(gòu)；鍍層厚度和鍍層邊界處的結(jié)構(gòu)形貌；磁（光）盤、磁頭表面結(jié)構(gòu)測...

摘要SJ5718小型輪廓測量儀 產(chǎn)品型號：SJ5718 產(chǎn)品名稱：小型輪廓測量儀 測量范圍：X軸（0-100）mm，Z0軸30mm，Z軸0-300mm X軸示值誤差：（0.8+0.02L）m，其中L為水平測量長度，單位：mm Z0軸示值誤差：（1+0.04H）m，其中H為...

摘要SJ5700-200輪廓測量儀 產(chǎn)品型號：SJ5700-200 產(chǎn)品名稱：SJ5700輪廓測量儀 測量范圍：X軸（0-200）mm，Z1軸25mm，Z軸0-450mm X軸示值誤差：（0.8+2L/100）m，其中L為水平測量長度，單位：mm Z1軸示值誤差：（1.6...

摘要SJ5760輪廓測量儀 產(chǎn)品型號：SJ5760 產(chǎn)品名稱：SJ5760輪廓測量儀 測量范圍：0～200mm，Z軸0-450mm，Z0軸25mm X軸示值誤差：(1.2+2L/100)m，其中L為水平測量長度，單位：mm Z0軸示值誤差：(2+|2H|/40)m，其中H...

摘要SuperView W1光學(xué)3D表面輪廓儀 產(chǎn)品型號：SuperView W1 產(chǎn)品名稱：光學(xué)3D表面輪廓儀 影像系統(tǒng)：10241024（20482048，25921944可選） 光學(xué)Zoom：1，（0.75，0.5可選） 干涉物鏡：2.5，5，10，20，50 XY...

摘要 JQL04型單纖維輪廓儀主要特點：1、可用來測量單纖維表面的形態(tài)和力學(xué)拉伸性能。2、通過數(shù)字掃描系統(tǒng)獲得纖維材料的表面輪廓。3、掃描時的移動速度可調(diào)，拉伸速度和位移可控。

摘要 泰勒經(jīng)濟型粗糙度輪廓儀Form Talysurf Intra適用于生產(chǎn)現(xiàn)場和計量室使用，采用PDA控制處理器，為觸摸式屏幕。

摘要 泰勒便攜式粗糙度輪廓儀Surtronic 25可設(shè)定多個測量參數(shù)，連接熱敏打印機，還能與計算機連接運行Talyprofile軟件進行進一步分析。

摘要 泰勒Form Talysurf PGI表面粗糙度輪廓儀具有高精度測量系統(tǒng)，的2D或3D多種軟件，適合一般應(yīng)用，軸承或光學(xué)非球面測量的粗糙度輪廓儀。

摘要 三豐輪廓儀CV-1000N2/2000M4是三豐數(shù)字檢出型輪廓形狀測定機。