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數(shù)字I O設(shè)備提供各種通道、電流和電壓選項(xiàng)，方便您找到應(yīng)用需求的選項(xiàng)。它們提供高可靠性的功能，即使應(yīng)用要求苛刻，也可完成自動(dòng)化。

PXIe，6?位，±300V，板載1 8 MS s隔離數(shù)字化儀，PXI數(shù)字萬(wàn)用表—PXIe4080是一款高性能6?位300 V DMM，提供了兩種常用測(cè)試儀器的...

USB、包括分析儀軟件、IEEE 488 GPIB儀器控制設(shè)備—GPIB-USB-HS+是一款I(lǐng)EEE 488控制器和便攜式分析儀，適用于采用USB插槽的計(jì)算機(jī)...

PXIe-5840是具有1 GHz瞬時(shí)射頻帶寬的第二代PXI矢量信號(hào)收發(fā)儀(VST)。VST結(jié)合了一個(gè)矢量信號(hào)發(fā)生器、矢量信號(hào)分析儀、高速串行接口和基于FPGA...

204 8 kS s，118 dB，3 4 Hz交流 直流耦合，雙輸入 雙輸出聲音與振動(dòng)設(shè)備—PCI 4461是專為聲音和振動(dòng)應(yīng)用而設(shè)計(jì)的高精度數(shù)據(jù)采集模塊。

在基于計(jì)算機(jī)的系統(tǒng)的單個(gè)設(shè)備中提供模擬I O、數(shù)字I O以及計(jì)數(shù)器 定時(shí)器功能的組合。

4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝電氣特性分析的完整解決方案

可在絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管和其他雙極器件之類(lèi)的半導(dǎo)體器件上執(zhí)行無(wú)損瞬態(tài)測(cè)量

開(kāi)發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。

使用4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和...

進(jìn)口大功率高精度晶體管圖示儀，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體分立器件封裝測(cè)試，制造企業(yè)的半導(dǎo)體器件分立來(lái)料檢驗(yàn)，半導(dǎo)體失效分析實(shí)驗(yàn)，高等院校和研究所教學(xué)科研等。

ITC55100C 型號(hào)是一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測(cè)試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常*的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比前代型號(hào)快20倍。

交互式可編程控制；自動(dòng)光標(biāo)測(cè)量；掃描測(cè)量模式

電流-控制設(shè)置為200 mA時(shí)，STEP AMPLITUDE設(shè)置為20x，STEP AMPLITUDE設(shè)置為10x。

ITC75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 （UIL） 測(cè)試系統(tǒng)，它基于 ITC 行業(yè)的 ITC55 系列測(cè)試儀的成功，增加了額外的測(cè)試和測(cè)量能力。

E4990A 阻抗分析儀具有 20 Hz 至 120 MHz 的頻率范圍，可在寬阻抗范圍內(nèi)提供出色的 0 045%（典型值）基本精度，并且內(nèi)置 40 V 直流偏...

測(cè)量：|Z|, |Y|, Ls, Lp, Cs, Cp, Rs, Rp, X, G, B, D, Q, θz [°], θz [rad], θy [°], θy...

內(nèi)置交流信號(hào)：10mV ~ 1Vrms，200μA~20mArms。直流內(nèi)置偏置信號(hào)：0~ 100mA 0~ +40V或-40V~ +40V（選配）?？赏饧覹K...

偏差測(cè)量功能：參考值偏差以及參考值偏差百分比可以作為結(jié)果輸出。

E4991B 阻抗分析儀具有 1 MHz 至 3 GHz 的頻率范圍，可在寬阻抗范圍內(nèi)提供 0 65% 的基本精度，并且內(nèi)置 40 V 直流偏置源（選件 001...