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4200-SCS系統(tǒng)是用于器件、材料和半導(dǎo)體工藝電氣特性分析的完整解決方案

可在絕緣柵雙極晶體管（IGBT），功率MOSFET，二極管和其他雙極器件之類的半導(dǎo)體器件上執(zhí)行無(wú)損瞬態(tài)測(cè)量

開(kāi)發(fā)和使用 MOSFET、IGBT、二極管和其他大功率器件，需要全面的器件級(jí)檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測(cè)量。

使用4200A-SCS 加快半導(dǎo)體設(shè)備、材料和工藝開(kāi)發(fā)的探索、可靠性和故障分析研究。 性能參數(shù)分析儀，提供同步電流-電壓 (I-V)、電容-電壓 (C-V) 和...

進(jìn)口大功率高精度晶體管圖示儀，廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體分立器件封裝測(cè)試，制造企業(yè)的半導(dǎo)體器件分立來(lái)料檢驗(yàn)，半導(dǎo)體失效分析實(shí)驗(yàn)，高等院校和研究所教學(xué)科研等。

ITC55100C 型號(hào)是一代的行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)系列 ITC55100 測(cè)試儀。該系統(tǒng)是圍繞一個(gè)非常*的微控制器設(shè)計(jì)的，它的時(shí)序分辨率為40ns，比前代型號(hào)快20倍。

交互式可編程控制；自動(dòng)光標(biāo)測(cè)量；掃描測(cè)量模式

電流-控制設(shè)置為200 mA時(shí)，STEP AMPLITUDE設(shè)置為20x，STEP AMPLITUDE設(shè)置為10x。

ITC75100 是一種增強(qiáng)的未夾式電感負(fù)載 （UIL） 測(cè)試系統(tǒng)，它基于 ITC 行業(yè)的 ITC55 系列測(cè)試儀的成功，增加了額外的測(cè)試和測(cè)量能力。