詳細摘要: KDB-3雙組合四探針方阻/電阻率測試儀是根據(jù)標準SEMI MF1529設(shè)計,雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導(dǎo)體電阻率或薄層電阻的方法。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言北京金時速儀器設(shè)備經(jīng)營部
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詳細摘要: KDB-3雙組合四探針方阻/電阻率測試儀是根據(jù)標準SEMI MF1529設(shè)計,雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導(dǎo)體電阻率或薄層電阻的方法。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: STY-2R全類型整流法導(dǎo)電型號測試儀是嚴格按照標準SEMI MF42-1105及國家標準GB/T1550中的全類型整流法設(shè)計生產(chǎn)。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: LT-1高頻光電導(dǎo)少子壽命測試儀 儀器采用GB/T1553-1997中硅單晶少數(shù)載流子壽命測定高頻光電導(dǎo)衰減法;測試硅單晶電阻率范圍:ρ﹥2Ω·㎝,測電子級參雜...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: LT-100C數(shù)字式硅晶體少子壽命測試儀該設(shè)備是按照國家標準GB/T1553“硅單晶少數(shù)載流子壽命測定的高頻光電導(dǎo)衰減法"設(shè)計制造。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: WJ-100A型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設(shè)計制造。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: LT-1B高頻光電導(dǎo)少數(shù)載流子壽命測試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設(shè)計制造。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: WJ-100C型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測試儀是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設(shè)計制造。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: WJ-100C型微波光電導(dǎo)載流子復(fù)合壽命測試儀-配工控機是參照半導(dǎo)體設(shè)備和材料組織SEMI標準MF1535-0707及國家標準GB/T 26068-2010設(shè)計...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: KDY-2成套兩探針電阻率測試儀(測檢磷檢硼棒)KDY-2型兩探針電阻率測試儀(以下簡稱兩探針儀)是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: 成套兩探針測試儀(測細硅芯)KDY-2KDY-2型兩探針電阻率測試儀(以下簡稱兩探針儀)是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會(AST...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: 成套兩探針測試儀(測鍺錠)KDY-2KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標準及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)*的材料驗收檢測方法“兩探針法"設(shè)計。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: KDY-2型兩探針電阻率測試儀是按照我國國家標準GB/T1551-1995及美國材料與試驗協(xié)會(ASTM)*的材料驗收檢測方法“兩探針法"設(shè)計
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: KDY-4四探針電阻率測試儀是嚴格按照硅片電阻率測量的標準(ASTM F84)及國家標準設(shè)計制造,并針對目前常用的四探針電阻率測試儀存在的問題加以改進。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: KDY-1A便攜式電阻率測試儀(成套)符合半導(dǎo)體材料電阻率的及國家標準測試方法。
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: HP系列四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭,可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜),金屬薄膜…...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: ST-21L型方塊電阻測試儀是一種依照類似的國家標準和美國A.S.T.M標準,專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(表面電阻)的新型儀器,可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術(shù),利用電流探針、電壓探針的變換,進行兩次電測量,能自動消除樣品幾何尺寸、邊界效應(yīng)以及探針不等距和機械游...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: SDY-4型四探針測試儀是根據(jù)單晶硅物理測試方法國家標準并參考美國A.S.T.M標準設(shè)計的半導(dǎo)體材料電阻率及方塊電阻(薄層電阻)測試儀器.
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: 全自動四探針測試系統(tǒng)RTS-1345型可對樣品進行單點、五點、九點、多點、直徑掃描、面掃描等模式的全自動測試;屏蔽測試,*消除光線對樣品測試的影響,保證測量的準...
產(chǎn)品型號:所在地:北京市更新時間:2025-09-08 在線留言詳細摘要: 4-20mA電流環(huán)路信號隔離調(diào)理器 4-20mA環(huán)路隔離*高效信號回路竊電技術(shù),無須外接工作電路兩線制4-20mA信號采集電壓(5-32V)超寬范圍輸入
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