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HP系列四探針探頭

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更新時(shí)間：2025-09-08 11:08:57瀏覽次數(shù)：164次

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北京金時(shí)速儀器設(shè)備經(jīng)營部

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產(chǎn)品簡介

HP系列四探針探頭
是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

詳細(xì)介紹

HP系列四探針探頭

HP-501型四探針探頭 HP-504型四探針探頭

HP系列四探針探頭是一種專門測量半導(dǎo)體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質(zhì)的薄層電阻。

特性及規(guī)格：

1	特制之手握式探筆
2	球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護(hù)薄膜不被損傷
3	探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數(shù)據(jù)集成模塊燒壞
4	探頭使用壽命長
5	探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ

可選配的型號及規(guī)格：