　　X射線測(cè)厚儀根據(jù)X射線穿透被檢物時(shí)的強(qiáng)度衰減來(lái)?yè)Q算和測(cè)量厚度，即測(cè)量被測(cè)鋼板吸收的X射線，根據(jù)X射線的能量值。接收到的信號(hào)由X射線探測(cè)器轉(zhuǎn)換成電信號(hào)，經(jīng)前置放大器放大，傳送到中央處理單元（PLC）。經(jīng)過(guò)幾列復(fù)雜的算法，通過(guò)專(zhuān)用的測(cè)厚儀操作系統(tǒng)，轉(zhuǎn)化為直觀的實(shí)際厚度信號(hào)。X射線源的輻射強(qiáng)度與X射線管的發(fā)射強(qiáng)度和被測(cè)鋼板吸收的X射線強(qiáng)度有關(guān)。

　　當(dāng)厚度一定時(shí)，X射線的能量值也一定。當(dāng)X射線高壓電源打開(kāi)時(shí)，X射線將穿過(guò)X射線源和探頭之間的被測(cè)鋼板，一部分能量被被測(cè)鋼板吸收，其余的X射線將被X射線源正上方的探頭接收，探頭將接收到的X射線轉(zhuǎn)換成與其尺寸相關(guān)的輸出電壓。如果被測(cè)鋼板的厚度發(fā)生變化，吸收的X射線量也會(huì)發(fā)生變化，從而改變探頭接收到的X射線量，檢測(cè)信號(hào)也會(huì)相應(yīng)發(fā)生變化。

　　X射線測(cè)厚儀根據(jù)原理一般有以下五種類(lèi)型：

　　1、磁性測(cè)厚法：適用于導(dǎo)磁材料上非磁性層的測(cè)厚。導(dǎo)磁材料一般為鋼、鐵、銀和鎳。該方法測(cè)量精度高。

　　2、渦流測(cè)厚法：適用于導(dǎo)電金屬上非導(dǎo)電層的測(cè)厚。這種方法比磁性測(cè)厚法和nt230涂層測(cè)厚儀具有更高的精度。

　　3、聲學(xué)測(cè)厚法：目前國(guó)內(nèi)尚未采用此法測(cè)厚。國(guó)外有些廠家有這樣的儀器，適用于多層鍍層厚度的測(cè)量或以上兩種方法都不能測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度不高。

　　4、電解測(cè)厚法：此法與上述三種方法不同。不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂層。一般來(lái)說(shuō)，準(zhǔn)確率不高。測(cè)量比其他方法更麻煩。

　　5、輻射測(cè)厚法：這種X射線測(cè)厚儀價(jià)格非常昂貴（一般100000RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合。

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X射線測(cè)厚儀按測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型

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