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EDX 4500H X熒光光譜儀是利用XRF檢測(cè)原理實(shí)現(xiàn)對(duì)各種元素成份進(jìn)行快速、準(zhǔn)確、無(wú)損分析。 該儀器的主要特征是利用智能真空系統(tǒng)，可對(duì)Si、P、S、Al、M...
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