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北京三禾泰達技術有限公司 公司簡介
北京三禾泰達技術有限公司成立于2003年1月21日2018~2020年間共取得11項產品軟件著作權2018年激光干涉測平儀項目獲得北京市朝陽區(qū)頒發(fā)的研發(fā)能力提升獎勵2020年被認定為企業(yè)。2021年被認定為中關村企業(yè)2021年2月有10項實用新型申請被國家局受理。十幾年來公司通過在測量領域的深耕和拓展，為市場提供了數款性價比的測量儀器，其中7種儀器。公司產品主要面向五個大的市場方向: 半導體WAFER平面度/厚度檢測、光學玻璃幾何參數特征檢測、利用近紅外光進行砷化鎵/硅晶體缺陷檢測、壓電水晶諧振器電學參數檢測以及激光傳感器應用研究，我們的產品包括：LINT-208G型WAFER平坦度半自動測試儀，該儀器目前；LINT-208G型WAFER平坦度/厚度全自動測試系統，該儀器目前；LST-208H型共聚焦法平面度測試儀，該系...
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