深圳市美程精密電子有限公司
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閱讀：346發(fā)布時(shí)間：2021-10-28
X熒光光譜儀 XTD測(cè)厚儀儀器簡(jiǎn)介：
XTD是一款于檢測(cè)各種異形件，特別適用于五金類模具、衛(wèi)浴產(chǎn)品、線路板以及高精密電子元器件表面處理的成分和厚度分析。
該系列儀器不但可以應(yīng)對(duì)平面、微小樣品的檢測(cè)，在面對(duì)凹槽曲面深度0-90mm以內(nèi)的異形件具備巨大的優(yōu)勢(shì)。
被廣泛用于各類產(chǎn)品的質(zhì)量管控、來(lái)料檢驗(yàn)和對(duì)生產(chǎn)工藝控制的測(cè)量使用。
技術(shù)參數(shù)：
1. 元素分析范圍：氯（Cl）- 鈾（U）
2. 涂鍍層分析范圍：氯（Cl）/鋰（Li）- 鈾（U）
3. 厚度*低檢出限：0.005μm
4. 成分*低檢出限：1ppm
5. *小測(cè)量直徑0.05mm（*小測(cè)量面積0.002mm2）
6. 對(duì)焦距離：0-90mm
7. 樣品腔尺寸：530mm*570mm*150mm
8. 儀器尺寸：760mm*550mm*635mm
9. 儀器重量：100KG
多元迭代EFP核心算法（號(hào)：2017SR567637）
*的研發(fā)團(tuán)隊(duì)在Alpha和Fp法的基礎(chǔ)上，計(jì)算樣品中每個(gè)元素的一次熒光、二次熒光、靶材熒光、吸收增強(qiáng)效應(yīng)、散射背景等多元優(yōu)化迭代開(kāi)發(fā)出EFP核心算法，結(jié)合*的光路轉(zhuǎn)換技術(shù)、變焦結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及穩(wěn)定的多道脈沖分析采集系統(tǒng)，只需要少量的標(biāo)樣來(lái)校正儀器因子，可測(cè)試重復(fù)鍍層、非金屬、輕金屬、多層多元素以及有機(jī)物層的厚度及成分含量。
單涂鍍層應(yīng)用：如Ni/Fe、Ag/Cu等
多涂鍍層應(yīng)用：如Au/Ni/Fe、Ag/Pb/Zn等
合金鍍層應(yīng)用：如ZnNi/Fe、ZnAl/Ni/Cu等
合金成分應(yīng)用：如NiP/Fe，通過(guò)EFP算法，在計(jì)算鎳磷鍍層厚度的同時(shí)，還可*分析出鎳磷含量比例。
重復(fù)鍍層應(yīng)用：不同層有相同元素，也可*測(cè)量和分析。
如釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB，*層Ni和第三層Ni的厚度均可測(cè)量。
選擇一六儀器的四大理由：
1.一機(jī)多用，無(wú)損檢測(cè)
2.*小測(cè)量面積0.002mm2
3.可檢測(cè)凹槽0-90mm的異形件
4.輕元素，重復(fù)鍍層，同種元素不同層亦可檢測(cè)
配置清單：
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