摘要 膜厚監(jiān)測和控制儀使用成熟的 INFICON 石英晶體傳感器技術在薄膜沉積過程中測量速率和厚度。兩個傳感器輸入為標準輸入，另外四個傳感器輸入為可選輸入。兩個錄像機輸出可提供模擬速率和厚度信號。

摘要 反射膜厚儀是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

摘要 Positest DFT-F簡易經濟型膜厚計 美國DEFELSKO品牌：美國DEFELSKO型號：Positest DFT-F名稱：簡易經濟型膜厚計功能：測量涂層的厚度

摘要 銷售AsahiSpectra朝日分光、光學式膜厚計在測量的wafer或glass上面的薄膜上垂直照射可視光，這時光的一部分在膜的表面反射，另一部分透進薄膜，然后在膜與底層 （wafer或glass）之間的界面反射。

摘要 顯微分光膜厚儀（OPTM系列）使用顯微光譜法在微小區(qū)域內通過絕對反射率進行測量，可進行高精度膜厚度/光學常數分析。通過非破壞性和非接觸方式測量涂膜的厚度，例如各種膜、晶片、光學材料和多層膜。

摘要SANKO電阻式膜厚計RST-231自動附著性試驗機510，結露計319，磁式厚度計FH，超聲波式膜厚計QuintSonicT，小型試驗厚度計2500，4500，725，735，745，非接觸膜厚計，混凝土用超聲波式膜厚計ULT-5000，超聲波式膜厚計QuintSo...

摘要 雙支鎳鉻－鎳硅,WRN2-621

摘要 日本KETT涂層測厚儀小巧、實用，用于無損、快速、精確的測量涂層、鍍層厚度。

摘要 復合膜厚度檢測儀 金屬片厚度測量儀 膜厚計采用機械接觸式測量方式，嚴格符合標準要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準確性。專業(yè)適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。

摘要真空鍍膜在線測厚儀/在線測厚儀/真空鍍膜厚度測試儀 型號：DP-HU：真空鍍膜在線測厚儀的組成 設備分為三部分：探測系統(tǒng)、人機交互設備、電腦實時監(jiān)控系統(tǒng)。 探測系統(tǒng):主要包括光源，接收器，控制器和鋁支架 人機界面：7寸LCD人機交互界面，...

摘要晶圓厚度/TTV/翹曲自動測量設備自適用于硅片Si、化合物(GaAs, InP, SiC, GaN)樣片的整體厚度檢測及TTV/BOW/Warp翹曲等參數檢測，該設備可以兼容透明片和不透明片。采用非接觸的測量方式，測量精準，可快速測試。采用白光光源，上下雙探頭設計，測...

摘要 優(yōu)可測薄膜厚度測量儀 AF系列偏差精準校正，實現超高分辨率；毫秒級別采樣頻率，比傳統(tǒng)膜厚儀提升2~3倍更合適在線使用！支持Mapping模式，自動快速測量，單點時間＜0.5s，兼容2-12寸晶圓片。

摘要日本富士FUJICON 便攜式數字負荷測量儀0本設備為日本 FUJICON 富士 FM?2 便攜式負荷測量儀，整機采用電池供電，由手持顯示主機搭配對應量程傳感器組成，面向生產現場完成壓力、壓緊力、沖壓負荷檢測校驗。具備峰值、谷值、數值保持、一鍵歸零等實用功能，主機與傳...

摘要日本DENSOKU 多點同步渦流式膜厚測量裝置本設備為日本 DENSOKU 電測 DMM-200 臺式多點同步渦流式膜厚測量裝置，依托高頻渦流感應原理，實現工件多個點位同時無損測定膜層厚度，解決傳統(tǒng)單點測厚效率低下難題。設備可按需配置傳感探頭數量，可支持 96 點并行...

摘要 針式膜厚計

摘要 L-2B電磁膜厚計

摘要 未干燥涂膜厚計測定

摘要 TH-11電解式膜厚計

摘要 CT-1 電解式膜厚計

摘要 GCT-311電解式膜厚計

摘要 CT-4電解式膜厚計

摘要 CT-3電解式膜厚計

摘要 4500P 膜厚計｜兩用型

摘要 Keyless 膜厚計｜無線傳輸型

摘要 8500-p 膜厚計｜兩用型

摘要 8500-b 膜厚計｜兩用型

摘要 4200P 膜厚計｜磁性底材

摘要涂層測厚儀PosiTector6000系列美國DeFelsko膜厚計：測厚儀PosiTector6000系列美國DeFelsko公司新的PosiTector6000系列涂鍍層測厚儀，用于測量鋼鐵等磁性基體上的非磁性涂鍍層，以及有色金屬(如銅、鋁、奧氏體不銹鋼)上的絕緣...

摘要 SurfixeasyEFN兩用易用型涂層測厚儀/膜厚計品牌：菲尼克斯型號：SurfixeasyEFN

摘要 SurfixS可換探頭統(tǒng)計型膜厚儀/膜厚計品牌：菲尼克斯型號：SurfixS1

摘要 日本KETT膜厚計 L-600型

摘要 日本KETT膜厚計測試臺 LW-990型

摘要 電磁膜厚計LE-200J型 實圖展示（現貨供應

摘要 デュアルタイプ膜厚計LZ-373型 實圖展示（大量現貨

摘要 デュアルタイプ膜厚計LZ-990型 實圖展示（大量現貨

摘要 反射式光學膜厚儀是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

摘要 非接觸式膜厚測量儀是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

摘要 反射式膜厚測量儀是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

摘要 光學膜厚儀是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

摘要 反射膜厚測量儀是一款精準又好用的薄膜厚度測量設備。它能測低至20納米的超薄薄膜，測量誤差小于1納米，最快每秒可測100次，重復測量精度高達0.05納米。它采用雙光源組合，覆蓋紫外到紅外全光譜，抗干擾能力強，在振動或復雜環(huán)境下也能穩(wěn)定工作。

摘要渦電流膜厚計Model型號：LH-373ElectromagneticCoatingThicknessTester產品簡介：LH-373型渦電流膜厚計采用渦電流測試原理無損測試非磁性金屬上（鋁、黃銅、青銅、等）上的絕緣層（如：油漆、Alumite、橡膠、塑料、琺瑯、瓷...

摘要 LZ-373渦磁式膜厚計

摘要電磁式膜厚計Model型號：LE-373ElectromagneticCoatingThicknessTester產品簡介：LE-373型電磁式膜厚計采用電磁感應測試原理無損測試磁性基材（鐵或鋼）上的非磁性涂鍍層（如：油漆、塑料、樹脂、橡膠、琺瑯、鋅、鉻、錫、銅、鋁、...

摘要 CT-3電解式膜厚計CT-3電解式膜厚計具備體積小、功能足、價格實惠等各種優(yōu)點，搭配測試臺及空氣攪拌功能，部件的各種外形都可輕易夾持，對于絕大多數的電鍍層都適合使用，另外，備有選購的線材測試器，對于線材或細小部件皆可應用

摘要 電磁感應涂層厚度測試儀ElectromagneticCoatingThicknessTesterModel型號：LE-200J產品簡介：LE-200J型膜厚計是日本KETT研制的內置打印機型涂層厚度測試儀