廣州貝拓科學技術有限公司
廣州貝拓科學技術有限公司
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號Delta
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地廣州市
聯(lián)系方式：周小姐查看聯(lián)系方式
更新時間：2026-04-17 10:39:33瀏覽次數(shù)：438次
聯(lián)系我時，請告知來自 儀表網(wǎng)薄膜厚度測定儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產(chǎn)品介紹
| 品牌 | 自營品牌 | 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|---|---|---|
| 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) | 應用領域 | 化工,生物產(chǎn)業(yè),電子,印刷包裝,紡織皮革 |
薄膜厚度測定儀產(chǎn)品特點
快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高
薄膜厚度測定儀Delta應用案例
應用領域
半導體（SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS，SOI等） LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)
LED (SiO2、光刻膠ITO等） 觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)
汽車(防霧層、Hard Coating DLC等） 醫(yī)學（聚對二甲苯涂層球囊/壁厚藥膜等）
技術參數(shù)
型號 | TF200-VIS | TF200-EXR | TF200-DUV | TF200-XNIR |
波長范圍 | 380-1050nm | 380-1700nm | 190-1100nm | 900-1700nm |
厚度范圍 | 50nm-40um | 50nm-300um | 1nm-30um | 10um-3mm |
準確度1 | 2nm | 2nm | 1nm | 10nm |
精度 | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm | 3nm |
入射角 | 90° | 90° | 90° | 90° |
樣品材料 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 |
測量模式 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
光斑尺寸2 | 2mm | 2mm | 2mm | 2mm |
是否能在線 | 是 | 是 | 是 | 是 |
掃描選擇 | XY可選 | XY可選 | XY可選 | XY可選
|
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