詳細(xì)摘要: 薄膜厚度儀利用薄膜干涉光學(xué)原理,對(duì)薄膜進(jìn)行厚度測(cè)量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面,探頭同位接收反射光線。Delta根據(jù)反射回來(lái)的干涉光...
產(chǎn)品型號(hào):Delta所在地:廣州市更新時(shí)間:2026-04-17 在線留言
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