廣州貝拓科學(xué)技術(shù)有限公司
| 參 考 價 | 面議 |
產(chǎn)品型號
品 牌
廠商性質(zhì)經(jīng)銷商
所 在 地廣州市
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更新時間:2026-04-17 09:01:10瀏覽次數(shù):669次
聯(lián)系我時,請告知來自 儀表網(wǎng)薄膜測厚儀膜厚儀探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光,用反復(fù)校準(zhǔn)的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm,可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜,還可以測量n和k值。
產(chǎn)品介紹
| 價格區(qū)間 | 面議 |
|---|
膜厚儀介紹
快速、準(zhǔn)確、無損、靈活、易用、性價比高


膜厚儀應(yīng)用案例

薄膜測厚儀?應(yīng)用領(lǐng)域
半導(dǎo)體(SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS,SOI等)
LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)
LED (SiO2、光刻膠ITO等)
觸摸屏(ITO AR Coating反射/穿透率測試等)
汽車(防霧層、Hard Coating DLC等)
醫(yī)學(xué)(聚對二甲苯涂層球囊/壁厚藥膜等)
薄膜測厚儀?技術(shù)參數(shù)
| 型號 | TF200-VIS | TF200-EXR | TF200-DUV | TF200-XNIR |
| 波長范圍 | 380-1050nm | 380-1700nm | 190-1100nm | 900-1700nm |
| 厚度范圍 | 50nm-40um | 50nm-300um | 1nm-30um | 10um-3mm |
| 準(zhǔn)確度1 | 2nm | 2nm | 1nm | 10nm |
| 精度 | 0.2nm | 0.2nm | 0.2nm | 3nm |
| 入射角 | 90° | 90° | 90° | 90° |
| 樣品材料 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 | 透明或半透明 |
| 測量模式 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 | 反射/透射 |
| 光斑尺寸2 | 2mm | 2mm | 2mm | 2mm |
| 是否能在線 | 是 | 是 | 是 | 是 |
| 掃描選擇 | XY可選 | XY可選 | XY可選 | XY可選 |
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