國產(chǎn)品牌半導(dǎo)體參數(shù)分析儀特點

30μV-1200V，1pA-100A 寬量程測試能力

測量精度高，全量程下可達0.03%

內(nèi)置標準器件測試程序，直接調(diào)用測試簡便 

自動實時參數(shù)提取、 數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù)

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線

供靈活的夾具定制方案，兼容性強

免費提供上位機軟件及SCPI指令集

應(yīng)用場景及測試參數(shù)

納米材料：電阻率、載流子遷移率、載流子濃度、霍爾電壓

柔性材料：拉伸/扭轉(zhuǎn)/彎折、V-t、I-t、R-t、電阻率、靈敏度

IC芯片：O/S、IIH/IIL、VOH/VOL、I/O  Pin IV曲線

分立器件：BVDSS/IGSS/IDSS/Vgs(th)/Rdson、Ciss/Coss/Crss、輸出/轉(zhuǎn)移/CV曲線等

光電探測器：暗電流ID、結(jié)電容Ct、反向擊穿電壓VBR、響應(yīng)度R

鈣鈦礦電池：VOC、ISC、Pmax、Vmax、Imax、FF、η、Rs、Rsh

LD/LED/OLED：Iop、Popt、VF、Ith、VR、IR、LIV/IVL曲線

傳感器/憶阻器：V-t、I-t、R-t、直流/脈沖/交流IV測試

特色優(yōu)勢

模塊化配置：可靈活配置多種測量單元，預(yù)留升級空間，方便后期升級

圖形化界面：內(nèi)置常用器件模板，可直接調(diào)用，并且支持輸出三種模式測試報告

自動化測試：內(nèi)嵌低漏電矩陣開關(guān)，可自動切換測試電路，實現(xiàn)一鍵測試功能

夾具可定制：支持二極管、三極管、Si及SiC  MOS管、IGBT等器件

多設(shè)備聯(lián)動：可與探針臺、溫控模塊等搭配使用，溫控范圍：室溫~250℃

更多有關(guān)國產(chǎn)品牌半導(dǎo)體參數(shù)分析儀詳情找普賽斯儀表專員為您解答，普賽斯儀表專業(yè)研究和開發(fā)半導(dǎo)體材料與器件測試的專業(yè)智能裝備，產(chǎn)品覆蓋半導(dǎo)體領(lǐng)域從晶圓到器件生產(chǎn)全產(chǎn)業(yè)鏈。推出基于高精度數(shù)字源表(SMU）的第三代半導(dǎo)體功率器件靜態(tài)參數(shù)測試方案，為SiC和GaN器件提供可靠的測試手段，實現(xiàn)功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)的高精度、高效率測量和分析。如果您對普賽斯功率半導(dǎo)體器件靜態(tài)參數(shù)測試方案和國產(chǎn)化高精度源表感興趣，歡迎隨時聯(lián)系我們！