北京布拉德科技發(fā)展有限公司
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所 在 地北京市
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更新時間:2026-09-04 16:52:05瀏覽次數(shù):432次
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飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng) J200有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景,易瀏覽不同的樣品區(qū)域,設(shè)立靈活的采樣方式
飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng) J200有30多年激光剝蝕技術(shù)的基礎(chǔ)研究經(jīng)驗和LA-ICP-MS方法的研究背景,易瀏覽不同的樣品區(qū)域,設(shè)立靈活的采樣方式,用戶在樣品圖像上可任意編輯激光采樣模式,包括光柵線狀、曲線、隨機點、任意尺寸網(wǎng)格或預(yù)先編制的模式,具備智能輸送和補充氣控制功能,使每種氣體按預(yù)定的方式達到設(shè)定值,同步開關(guān)確保穩(wěn)定的ICP-MS等離子體狀態(tài),防止等離子體火焰噴出。預(yù)設(shè)閥配置可選擇氬氣或氦氣作為載氣或緩沖氣。
產(chǎn)品優(yōu)勢:
1、與測量樣品相匹配的標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì);
2、J200LA-fs確保元素和同位素不分解的情況下
3、剝蝕的顆粒能真實地代表樣品的化學(xué)特性;
4、J200LA-fs系列剝蝕樣品精度高,且沒有熱效應(yīng);
5、大樣品顆粒還會在ICP-MS的瞬時信號中產(chǎn)生峰值;
6、J200施加高能激光的時間比長脈沖系統(tǒng)短,短達1/10000;
7、J200系統(tǒng)產(chǎn)生的樣品顆粒均勻一致,且尺寸分布合理,一般在10-200nm。

基本信息:
1、認(rèn)證:CE認(rèn)證;
2、LIBS檢測器:
3、Czerny Turner光譜儀 / ICCD檢測器;
4、自動X-Y軸:100 mm X 100 mm 行程范圍,分辨率0.2微米;
5、延保:可簽署多年質(zhì)保和服務(wù)協(xié)議;
6、供電要求:110-240 VAC,50/60 Hz, 5A, 保險10A;
7、可選項: LA升級為Tandem系統(tǒng)。
飛秒激光剝蝕進樣系統(tǒng) J200采用飛秒LA-ICP-MS系統(tǒng)還可以對植物葉片進行深度的剖析。測量葉片內(nèi)部不同部位的元素變化情況以及特定元素的分布情況。實驗使用飛秒激光器,10個脈沖,脈沖1至脈沖10表示葉片的表層至內(nèi)部,制定完成的處方,以后也可以調(diào)用。多個處方可編制成組,自動順序執(zhí)行,使測量工作高度自動化,采用∫ Integra的模式工具也可選定,并分析其元素或同位素。
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