詳細(xì)摘要: J200 Femto iX LA 激光燒蝕(LA)可進(jìn)行有效的時(shí)間分辨ICP-MS信號(hào)處理,簡(jiǎn)單的定量分析,2D/3D元素成像和樣品取樣, 激光燒蝕(LA)在運(yùn)...
產(chǎn)品型號(hào):所在地:北京市更新時(shí)間:2026-09-04 在線留言
北京布拉德科技發(fā)展有限公司
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商 鋪:北京布拉德科技發(fā)展有限公司 http://www.liuyangwu.com/st103136/
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