導讀：由中科院自動化所研發(fā)的“高速運動電子標簽的射頻應用系統(tǒng)性能的測試系統(tǒng)和方法”日前獲得美國授權(quán)。
　　
　　儀表網(wǎng)訊    據(jù)悉，由中國科學院自動化所譚杰研究員等人研究發(fā)明的“Method and Apparatus for Testing the Performance of Radio Frequency Identification System”（PCT號：PCT/CN2010/002054、美國號:13/143,041）日前在美國獲得授權(quán)。該發(fā)明于2010年通過申請PCT途徑，于2011年申請進入美國。它是自動化所通過PCT的途徑在美國獲得授權(quán)的。
　　
　　該發(fā)明是高速運動電子標簽的射頻應用系統(tǒng)性能的測試系統(tǒng)和方法，由讀寫器發(fā)射天線、頻譜分析儀接收天線、待測電子標簽、讀寫器天線支架、待測讀寫器、頻譜分析儀、控制計算機、驅(qū)動電機控制器、驅(qū)動電機、轉(zhuǎn)盤、防護罩、支撐臺組成，其方法是通過驅(qū)動電機帶動轉(zhuǎn)盤，使固接在轉(zhuǎn)盤上的待測電子標簽以高速運動，利用電子標簽在轉(zhuǎn)盤切線方向的速度來模擬實際應用中電子標簽直線運動速度，從而科學的、可重復的對電子標簽在高速運動狀態(tài)下的RFID應用系統(tǒng)性能進行評價。
　　
　　隨著RFID的應用規(guī)模越來越大，RFID天線和讀寫器的品種越來越多，為了在眾多的RFID讀寫器和標簽中選擇符合使用者需求的產(chǎn)品，需要對RFID產(chǎn)品的性能指標進行專門的測試。在智能停車場、高速公路不停車收費等實際應用中，RFID讀寫器和標簽之間存在快速相對運動。傳統(tǒng)高速運動狀態(tài)下RFID產(chǎn)品性能測試系統(tǒng)和方法存在占用空間大、建設(shè)成本高、實驗過程不穩(wěn)定等缺點。針對傳統(tǒng)方法的缺點，該項提出的一種電子標簽在高速運動狀態(tài)下的RFID應用系統(tǒng)性能基準測試系統(tǒng)及方法，該系統(tǒng)和方法能在測試過程中較好的還原真實測試場景。為使用者提供一種簡單、明確、有效的自動化測試工具和基準測試方法，用以在可重復條件下快速評價電子標簽處于高速運動狀態(tài)應用場景中RFID應用系統(tǒng)性能，從而為使用者設(shè)備選型提供決策參考。
　　
　　作為物聯(lián)網(wǎng)的核心技術(shù)之一，RFID技術(shù)有廣闊的應用前景和巨大的應用價值。RFID性能測試設(shè)備和技術(shù)能為用戶設(shè)備選型提供決策參考，是RFID技術(shù)實際應用的基礎(chǔ)。該項提出的系統(tǒng)及方法能夠為用戶提供一種簡單、明確、有效的自動化測試方式。有助于提升我國在RFID領(lǐng)域自主創(chuàng)新能力，支撐我國高技術(shù)產(chǎn)業(yè)與新興產(chǎn)業(yè)發(fā)展的技術(shù)領(lǐng)域，符合資助管理辦法。
　　
　　該項已經(jīng)在中國和美國都取得正式授權(quán)，增強了我國在RFID性能測試方面的競爭力，完善了我國RFID測試技術(shù)池，為將來參與RFID測試標準制定爭取了更多話語權(quán)。