X射線熒光鍍層厚度測量儀 （SFT9200系列）

產品簡介

　　是改進SEIKOSFT3000而上市的一種新產品，添加了SFT3000系列沒有的激光對焦，自動樣品臺等功能，使使用者操作更簡便更快捷的儀器。與他社儀器相比具有2048通道的MCA采樣分析電路，大大減小了分析誤差并配備了5種圓形，方形準直器，不受樣品形狀的影響能夠更準確地進行測量。
　　
　　產品介紹：
　　型號：SFT9200／SFT9250／SFT9255
　　儀器的特長：廣泛應用型
　　可測量元素：原子序號22（Ti）～83（Bi）
　　X射線源：小型空氣冷卻型高功率X射線管球（W靶）
　　管電壓：45kV管電流：1mABe窗
　　濾波器：一次濾波器：A1-自動切換
　　二次濾波器：Co-自動切換
　　照射方式：上方垂直照射方式
　　檢測器：比例計數管
　　儀器校正：自動校正
　　準直器（標準配置）：○型（三種）
　　□型（三種）
　　安全性能：樣品室門鎖，樣品防沖撞功能
　　樣品圖像對焦：有（激光對焦）
　　樣品觀察：CCD攝像頭固定倍率、鹵素燈照明
　　焦點切換功能：3段切換9200：10／40／70mm
　　9250：10／25／40mm
　　應用  單層、雙層、多成分合金薄膜、成分比同時測量、無電解鎳（zui多可測5層）
　　軟件  薄膜FP法軟件
　　測量功能：自動測量、中心搜索、圖像處理
　　修正功能：基材修正、已知樣品修正、人工輸入修正
　　統(tǒng)計處理功能：MS-EXCEL®
　　報告制作功能：MS-WORD®