一、產(chǎn)品介紹

38DL PLUS是一款超聲測厚技術(shù)新時代的創(chuàng)新型儀器。這款手持式測厚儀可*地適用于幾乎超聲測厚應(yīng)用，而且與所*雙晶和單晶探頭兼容。功能齊全的38DL PLUS測厚 儀可用于各種應(yīng)用，包括使用雙晶探頭對內(nèi)壁腐蝕的管件進行 的管壁減薄的測量，以及使用單晶探頭對薄壁或多層材料進行的*其精確的壁厚測量。
38DL PLUS的標準配置帶有很多既又易于使用的測量功 能，以及一些專用于某些應(yīng)用的軟件選項。其密封機殼的 設(shè)計符合IP67評級要求，可以抵御*其潮濕或多沙塵的嚴酷的 環(huán)境條件。彩色透反VGA顯示功能使得測厚儀顯示屏無論在明 亮的陽光下還是在的黑暗中都能具有*好的可視性。測厚 儀的鍵區(qū)既簡潔又符合人體工程學的要求。操作人員使用左手 或右手即可輕易訪問功能。利用超聲技術(shù)測得的厚度值精確、可靠，并具有可重復性。通過從材料一側(cè)進行測量可得到即時厚度讀數(shù)，因此無需因切開工件而對工件造成毀壞。

二、產(chǎn)品參數(shù)

單晶探頭，用于腐蝕測厚應(yīng)用
要獲得單晶探頭的完整清單，請咨詢您所在地的我公司的代理或查詢我公司上的信息。

取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。整個范圍可能需要增益調(diào)整。
zui高溫度下，僅使用間歇接觸。
可提供不銹鋼線纜；欲查詢詳情，請與Olympus NDT。
使用穿透涂層技術(shù)的探頭。

三、產(chǎn)品特點

可與雙晶和單晶探頭兼容。
寬泛的厚度測量范圍: 0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
內(nèi)部氧化皮/沉積物軟件選項。
對于所*探頭，標準分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時間測量。
差分模式和縮減率模式。
時基B掃描模式; 每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
設(shè)計符合EN15317標準。

單晶探頭，用于腐蝕測厚應(yīng)用
要獲得單晶探頭的完整清單，請咨詢您所在地的我公司的代理或查詢我公司上的信息。

取決于材料、探頭類型、表面條件和溫度。整個范圍可能需要增益調(diào)整。
zui高溫度下，僅使用間歇接觸。
可提供不銹鋼線纜；欲查詢詳情，請與Olympus NDT。
使用穿透涂層技術(shù)的探頭。

可與雙晶和單晶探頭兼容。
寬泛的厚度測量范圍: 0.08毫米～635毫米，根據(jù)材料和所選探頭而定。
使用雙晶探頭進行腐蝕測厚。
穿透涂層和回波到回波測量功能，用于測量表面帶有漆層和涂層的材料。
內(nèi)部氧化皮/沉積物軟件選項。
對于所*探頭，標準分辨率為0.01毫米。
使用頻率范圍為2.25 MHz～30 MHz的單晶探頭，高分辨率軟件選項可進行分辨率為0.001毫米的厚度測量。
多層軟件選項可對多達4個不同層同時進行測量。
高穿透軟件選項用于測量纖維玻璃、橡膠及厚鑄件等具有高衰減性的材料。
厚度、聲速和渡越時間測量。
差分模式和縮減率模式。
時基B掃描模式; 每次掃查可獲得10000個可查讀數(shù)。
帶有數(shù)字式過濾器的Olympus高動態(tài)增益技術(shù)。
用于自定義V聲程補償?shù)腣聲程創(chuàng)建功能。
設(shè)計符合EN15317標準。