一、設(shè)備名稱:顯微推拉力測(cè)試儀
二、設(shè)備型號(hào):GH-8001C
三、產(chǎn)品說明:
顯微推拉力測(cè)試儀(微焊點(diǎn)強(qiáng)度測(cè)試儀器)是用于微電子封裝和pcba電子組裝制造及其失效分析領(lǐng)域的專用動(dòng)態(tài)測(cè)試儀器,是微電子和電子制造領(lǐng)域的重要儀器設(shè)備??勺詣?dòng)完成測(cè)試并記錄測(cè)試數(shù)據(jù)、并能顯示力-位移、力-時(shí)間的坐標(biāo)曲線參,并能保存測(cè)試數(shù)據(jù)和生成測(cè)試報(bào)表。雙顯示系統(tǒng)實(shí)時(shí)高清放大測(cè)試過程。
四、測(cè)試功能:
1、內(nèi)引線拉力測(cè)試;
2、微焊點(diǎn)推力測(cè)試;
3、芯片剪切力測(cè)試;
4、SMT焊接元件推力測(cè)試
五、技術(shù)參數(shù):
1.型號(hào):GH-8001C
2.精度等級(jí):0.5級(jí);
3.負(fù)荷:100N,200N,500N(任選)
4.有效測(cè)力范圍:0.3-99%;
5.測(cè)力精度:示值的±0.5%以內(nèi);
6.試驗(yàn)力分辨率:1/500,000,且全程分辨率不變;
7.有效試驗(yàn)寬度:200 mm;
8.有效試驗(yàn)長(zhǎng)度:200 mm;
9.有效試驗(yàn)高度:200 mm;
10.測(cè)試頭配置:推力測(cè)試頭一個(gè)
11.試驗(yàn)速度范圍:0.01~200mm/min無級(jí)調(diào)速;
12.XY軸移動(dòng)速度:0.01~500mm/min無級(jí)調(diào)速;
13.速度精度:示值的±0.5%以內(nèi);
14.位移測(cè)量精度:示值的±0.5%以內(nèi);
15.功率:AC220V±10%1200W;
16.主機(jī)尺寸:650×550×1400mm(l*w*h);
17.主機(jī)重量:約130kg;
*詳細(xì)技術(shù)參數(shù)請(qǐng)聯(lián)系我司索取。
l國泓儀器/芯片推力試驗(yàn)機(jī)




































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