
General Photonics公司的PDL/IL測試儀(PDL-201)采用值/最小值搜尋法(符合TIA/EIA-455-198標準),能夠?qū)ζ骷钠裣嚓P(guān)損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率進行快速測量,測量速度0.2s。該測試儀工作波長覆蓋1260~1620nm,在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測量結(jié)果,無需波長校準,比基于Mueller矩陣方法測得的PDL值更準確。該測試儀擁有RS-232、USB 及以太網(wǎng)接口,可以方便地與計算機連接,進行遠程控制和數(shù)據(jù)傳輸,是精確、快速測量無源器件、DWDM 器件的理想儀器。
產(chǎn)品特性:
30 ms的測量速度
較寬的波長范圍
PDL測量精度高
PDL模擬輸出
高亮的OLED屏
產(chǎn)品應(yīng)用:
PDL與波長測量
DWDM器件特性測試
光纖傳感元件特性測試
插入損耗(IL)的測量
器件生產(chǎn)、研發(fā)、質(zhì)量評估
| 性能參數(shù) | 指標 |
| 工作波長范圍 | 1260 to 1620 nm |
| 分辨率 | 0.01 dB |
| PDL測量精度 | +/- (0.01 + 5% PDL) dB |
| PDL測量可重復(fù)性 | +/- (0.005 + 2% PDL) dB |
| PDL測量范圍 | 0 to 45 dB |
| IL測量精度 | +/- (0.01 + 5% PDL) dB |
| IL測量可重復(fù)性 | +/- (0.005 + 2% PDL) dB |
| IL測量范圍 | 0 to 45 dB |
| 注入功率范圍 | -40 dBm to +6 dBm |
| 測量速度 | 30 ms/次(輸入功率> -30 dBm) |

































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