準(zhǔn)確度和靈敏度達(dá)到新水平

• 提高元素識(shí)別和成分分析的準(zhǔn)確性，如某些元素譜峰在EDS譜圖中有明顯重疊
• 微量元素的識(shí)別和測(cè)量水平低至數(shù)十ppm
• 對(duì)所有濃度水平的元素進(jìn)行準(zhǔn)確定量
• 用能譜儀 (EDS) 測(cè)量常量元素，用WDS測(cè)量譜峰嚴(yán)重重疊或痕量元素
• 解決冶金、電子、礦物學(xué)/地質(zhì)學(xué)、陶瓷、法醫(yī)學(xué)和核能發(fā)電各行業(yè)成分表征的挑戰(zhàn)

所有類型用戶均可使用

• 在AZtec平臺(tái)中，集成了EDS和WDS分析的工作流程
• 新技術(shù)利用了EDS和SEM端的實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)輸入而優(yōu)化WDS設(shè)置，確保在很短的采集時(shí)間內(nèi)為所有級(jí)別的用戶提供出色的結(jié)果
• 的三路控制，在采集前優(yōu)化束流，采集時(shí)間和精度
• 有經(jīng)驗(yàn)的用戶也可手動(dòng)控制
• EDS和SEM信息自動(dòng)采集并優(yōu)化設(shè)置：

• • • • 采集時(shí)間
      • 線系
      • 衍射晶體
      • 背景位置
      • EDS采集參數(shù)
      • EDS探測(cè)器位置

WDS 譜圖掃描：

• 晶體
• 狹縫尺寸
• 狹縫位置
• 駐留時(shí)間

適用于所有元素

牛津儀器波譜儀AZtecWave令掃描電鏡也可實(shí)現(xiàn)電子探針的功能

• 針對(duì)所有能量進(jìn)行了優(yōu)化，這意味著始終可用推薦的X射線線系進(jìn)行分析
• 可區(qū)分包括過(guò)渡金屬K線在內(nèi)的所有常見(jiàn)重疊的元素線系
• 在較短的采集時(shí)間和低束流條件下可獲得極低的檢測(cè)限

與AZtecLive EDS軟件和技術(shù)無(wú)縫集成

• Tru-Q技術(shù)使得EDS在高達(dá)400,000cps計(jì)數(shù)率條件下提供電子探針級(jí)定量精度

通過(guò)Aztec Wave使用EDS及WDS聯(lián)用的方式檢測(cè)不銹鋼樣品的元素含量

通過(guò)WDS對(duì)高溫合金中僅0.1wt%Co元素的Ka線做譜圖掃描