摘要TEMPOS熱特性分析儀配套探針庫號(hào)：M34805KS-36 cm 單針導(dǎo)熱率 K：0.02~2.00 W/(m?K) ±10% @ 0.2~2.0 W/(m?K) 長 60 mm，直徑1.3 mm 熱阻率 R：50~5000 ℃·cm /W ——...

摘要ALPHA SUITE探頭一、美國ALPHA SUITE公司簡介美國ALPHA SUITE公司(“ASI”)是一家美國原始設(shè)備制造商，它設(shè)計(jì)、開發(fā)和供應(yīng)用于氣體采樣和監(jiān)測(cè)應(yīng)用的科學(xué)儀器，主要與過程排放相關(guān)。具體儀器包括;原位稀釋萃取探針、異位稀釋模塊、精確低流量(“低...

摘要該電子探針臺(tái)與MFP-3D原子力顯微鏡的掃描儀相連接。該裝置可以實(shí)現(xiàn)在原子力顯微鏡掃描樣品的同時(shí)對(duì)樣品進(jìn)行電學(xué)探測(cè)、電偏壓和其他測(cè)量。另外還可以配置多種電氣連接，并與各種成像模式相結(jié)合。 詢價(jià) 增加到詢價(jià)列表 在詢價(jià)列...

摘要HommelWerke測(cè)試探針HommelWerke檢測(cè)儀240215供應(yīng)德國HommelWerke測(cè)試探針，德國HommelWerke粗糙度儀 HommelWerke宏觀輪廓測(cè)量HommelWerke網(wǎng)紋檢測(cè)儀 HommelWerke缸孔表面粗糙度 Hommel...

摘要 數(shù)字式四探針測(cè)試計(jì) 四探針測(cè)試計(jì) 半導(dǎo)體四探針檢測(cè)儀 型號(hào):DL10-1934B

摘要掃描俄歇電子探針 2025/03/12 特點(diǎn)使用CMA同軸分析器，同時(shí)實(shí)現(xiàn)高靈敏度和高傳輸率。即使在低電流高空間分辨率情況下，都可以輕松進(jìn)行分析。以20kV加速電壓和電流1nA進(jìn)行俄歇分，AES空間分辨率可達(dá)≤8nm。在擁有所有CMA優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)，并結(jié)合獲得AVS（美國...

摘要 EPMA-8050G電子探針顯微分析儀具有超高分辨率面分析,具有非常的空間分辨率,二次電子圖像分辨率3nm，大束流超高靈敏度分析,全部分析操作簡單易懂.

摘要 電子探針EPMA-1720 Series從軟件到硬件凝結(jié)了,鑄就了新一代EPMA.島津EPMA在保持了一貫的高靈敏度·高精度·高分辨率的基礎(chǔ)上,又新增了簡單·易懂的操作性能,將電子探針功能發(fā)揮致.既可滿足初學(xué)者簡易操作的需求,又能適合專家級(jí)的科研分析.

摘要 儀器名稱：電子探針儀（EPMA）型號(hào)：日本電子JXA-8230檢測(cè)項(xiàng)目：形貌元素含量應(yīng)用范圍：1、金屬材料的相分析、成分分析和夾雜物形態(tài)成分鑒定

摘要掃描俄歇電子探針 2025/03/12 特點(diǎn)使用CMA同軸分析器，同時(shí)實(shí)現(xiàn)高靈敏度和高傳輸率。即使在低電流高空間分辨率情況下，都可以輕松進(jìn)行分析。以20kV加速電壓和電流1nA進(jìn)行俄歇分，AES空間分辨率可達(dá)≤8nm。在擁有所有CMA優(yōu)點(diǎn)的同時(shí)，并結(jié)合獲得AVS（美國...

摘要2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場(chǎng)發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了的贊譽(yù)。研發(fā)的第三代場(chǎng)發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統(tǒng)有了很大的改進(jìn)，新的軟件能提供更高的通量，并保持著的穩(wěn)定性，能實(shí)現(xiàn)更廣...

摘要 可以安裝通用性強(qiáng)、使用方便的能譜儀X射線探測(cè)器，組合使用WDS和EDS，能提供無縫、舒適的分析環(huán)境。

摘要 JXA-iHP200F在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更的一體化集成FE-EPMA。

摘要 JXA-iSP100在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更的一體化EPMA。

摘要 “TheGrandEPMA”誕生搭載場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)、將島津EPMA分析性能發(fā)揮到從SEM觀察條件到1μA量級(jí)，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)

摘要 從軟件到硬件凝結(jié)了，鑄就了新一代EPMA

摘要用途：用于各種需要測(cè)溫的場(chǎng)合等特點(diǎn)：筆型結(jié)構(gòu)，全不銹鋼探針，準(zhǔn)確度高，可快速測(cè)溫功能多--攝氏（℃）華氏（°F）自由轉(zhuǎn)換，制冷、制熱、家庭廚房都可用LCD顯示，測(cè)量范圍大增，穩(wěn)定性高按鍵功能1、ON/OFF:開關(guān)功能2、HOLD鍵：在顯示溫度狀態(tài)下，按此鍵可將LCD的...

摘要 簡單介紹 日本制西鐵城CITIZEN電子比測(cè)探針，IPD-P510、IPD-P510-03N、IPD-P510N、IPD-P510N-03N。

摘要 簡單介紹 日本西鐵城電子比測(cè)探針，型號(hào)：IPD-B505F、IPD-B505F-03N。測(cè)量范圍：5mm,*小讀數(shù)：0.0005mm,精度：0.001mm.

摘要 簡單介紹 西鐵城電子比測(cè)探針 電子比測(cè)探針 品牌:西鐵城　CITIZEN 型號(hào):IPD-P510/P510D/B505F 產(chǎn)地:日本

摘要 簡單介紹 日本制西城鐵CITIZEN電子比測(cè)探針，型號(hào)：DTH-P20、DTH-P40、DTH-P16AL、DTH-P70W。

摘要 高靈敏度·高精度·高分辨率「簡單?易懂的操作」從軟件到硬件凝結(jié)了，鑄就了新一代EPMA

摘要 “TheGrandEPMA”誕生搭載場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)將島津EPMA分析性能發(fā)揮到從SEM觀察條件到1μA量級(jí)，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)

摘要 （電子探針）EPMA-8050G

摘要 （電子探針）EPMA-1720 Series

摘要 “TheGrandEPMA”誕生搭載場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)、將島津EPMA分析性能發(fā)揮到從SEM觀察條件到1μA量級(jí)，在各種束流條件下都擁有空間分辨率的場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)

摘要 電子探針EPMA-1720 Series

摘要 產(chǎn)品信息高靈敏度高精度高分辨率「簡單易懂的操作」從軟件到硬件凝結(jié)了，鑄就了新一代EPMA

摘要JXA-8530F Plus 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀 2003年日本電子推出了世界商業(yè)化場(chǎng)發(fā)射電子探針（FE-EPMA），此后被廣泛地應(yīng)用于金屬、材料、地質(zhì)等各個(gè)領(lǐng)域，并獲得了高的贊譽(yù)。新研發(fā)的第三代場(chǎng)發(fā)射電子探針JXA-8530F Plus，電子光學(xué)系統(tǒng)有了很大...

摘要是德N2849A 探針 適是德N2849A 探針 適用于 N2848A 探頭公司簡介中順機(jī)電（東莞）有限公司還經(jīng)營各類二手國產(chǎn)、進(jìn)口儀器,及各種品牌二手儀器銷售、租賃的業(yè)務(wù)。各類二手儀器、展覽機(jī)、樣機(jī)貨源充足，全部原廠現(xiàn)貨，絕大部分都是直接從國外引進(jìn)，成色新，價(jià)格低，...

摘要TESTEC探頭一.公司介紹TESTEC Elektronik GmbH公司由Andreas Mann，Robert Mann和Marcus Wagener的合伙人于1991年在德國法蘭克福成立。活動(dòng)重點(diǎn)在于示波器探頭以及測(cè)試和測(cè)量附件的生產(chǎn)和銷售。除了大型標(biāo)準(zhǔn)程序外...

摘要日本電子新開發(fā)出的EPMA （電子探針）秉承近半個(gè)世紀(jì)的EPMA的發(fā)展歷史，JXA-8230具備用戶友好的操作、通過新式簡單易用的PC 用戶界面提供完整范圍的高精度、快速分析，這是JEOL長年來對(duì)高可靠性硬件不斷改良的結(jié)果。JXA-8230電子探針是下一代能*多種需求...

摘要 EPMA-1720島津電子探針電子探針（EPMA）是用極細(xì)的電子束對(duì)樣品表面進(jìn)行照射產(chǎn)生特征X射線，對(duì)特征X射線進(jìn)行分光和強(qiáng)度測(cè)定，得到微小區(qū)域的元素組成及樣品表面元素濃度分布的分析裝置

摘要 產(chǎn)品詳情島津場(chǎng)發(fā)射電子探針EPMA-8050G開創(chuàng)新紀(jì)元的空間分辨率與超高靈敏度的結(jié)合TheGrandEPMA誕生搭載場(chǎng)發(fā)射電子光學(xué)系統(tǒng)將島津EPMA分析性能發(fā)揮到

摘要 電子探針顯微分析儀EPMA-8050G電子探針顯微分析原理及其發(fā)展的初期是建立在X射線光譜分析和電子顯微鏡這兩種技術(shù)基礎(chǔ)上的，該儀器實(shí)質(zhì)上就是這兩種儀器的科學(xué)組合

摘要 電子探針EPMA-1720/1720(H)電子探針是一種利用電子束作用樣品后產(chǎn)生的特征X射線進(jìn)行微區(qū)成分分析的儀器，[1]可以用來分析薄片中礦物微區(qū)的化學(xué)組成

摘要 電子探針X射線顯微分析儀儀器名稱：電子探針X射線顯微分析儀型號(hào)：EPMA-1600生產(chǎn)廠家：日本島津公司儀器簡介：日本島津公司的EPMA－1600型電子探針，由四道譜儀、八塊分光晶體組成

摘要S1000放大倍率標(biāo)準(zhǔn)樣品-掃描電鏡掃描電鏡用于掃描電鏡儀器主要性能的校驗(yàn)和檢驗(yàn)，如圖像的放大倍率檢驗(yàn)與調(diào)整、掃描圖像畸變的調(diào)整、像散調(diào)節(jié)以及樣品臺(tái)的復(fù)位檢驗(yàn)等，是掃描電鏡儀器驗(yàn)收、儀器年度檢驗(yàn)、計(jì)量認(rèn)證、實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可等考核中都需要的標(biāo)準(zhǔn)樣品。是多個(gè)國家標(biāo)準(zhǔn)文件GB/T...

摘要

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摘要天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷RENISHAW 3D 掃描探針RSP3 RSP3-1/2/3/4探頭可用于3D掃描（X，Y，Z）和觸發(fā)式應(yīng)用。它們可以實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確的掃描測(cè)量，有效的測(cè)針長度范圍為20 mm - 394 mm。另一方面，RSP3-6探頭為REVO-2提供了...

摘要 天津瑞利光電科技有限公司優(yōu)勢(shì)經(jīng)銷RENISHAW 3D掃描探針RSP3產(chǎn)品型號(hào)：RSP3-1 / 2 / 3 / 4

摘要 關(guān)鍵字：RENISHAW 3D掃描探針RSP3關(guān)鍵字描述：產(chǎn)品介紹：RSP3補(bǔ)充了RSP2探頭，為REVO系統(tǒng)提供了3D掃描（x，y，z）和曲柄觸控筆功能。它用于3軸掃描，例如在測(cè)量期間具有固定的REVO頭角。RSP3系列探頭允許使用不同長度的測(cè)針，同時(shí)保持測(cè)量性能。

摘要英國renishaw探針renishaw是工程和科學(xué)技術(shù)公司之一，擁有精密測(cè)量和醫(yī)療保健方面的專業(yè)知識(shí)。該公司提供用于各種應(yīng)用的產(chǎn)品和服務(wù)，如噴氣發(fā)動(dòng)機(jī)和風(fēng)力渦輪機(jī)制造。是英國一家設(shè)計(jì)和制造用金屬粉末“打印”零件的工業(yè)機(jī)器的公司。目前在35個(gè)國家設(shè)有70多個(gè)辦事處，可...