FISCHER臺式鍍層測厚儀X射線熒光分析儀 特點(diǎn)
緊湊且耐用的臺式儀器,采用X射線熒光法進(jìn)行無損的材料分析
硬件和軟件都是針對黃金和貴金屬分析進(jìn)行優(yōu)化的
樣品放置簡便,采用了寬敞的測量艙和自下往上的測量方向
符合標(biāo)準(zhǔn)EN 61010, DIN ISO 3497 和ASTM B 568
有4個型號適合于所有測量應(yīng)用:GOLDSCOPE SD 510, GOLDSCOPE SD 515, GOLDSCOPE SD 520, GOLDSCOPE SD 550
510/515 型號配有硅PIN探測器
520/550 型號配有硅漂移探測器,可在測量相近元素時提供更高的分辨率
FISCHER WinFTM® 軟件中已配有分析貴金屬的測量程式
FISCHER臺式鍍層測厚儀X射線熒光分析儀 應(yīng)用
在測試實(shí)驗(yàn)室中無損分析珠寶、錢幣及貴金屬
黃金的購買和銷售
貴金屬分析,牙科研合金材料
認(rèn)證:精煉廠、金屬貨幣檢驗(yàn)室、金屬品質(zhì)證明
銀器或黃金合金上的銠鍍層厚度測量





































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