日本電測電阻式膜厚計
特性:
2.采用4探針探頭(kelvin式),不受雙面板和金屬板之里層及內(nèi)層影響,可得到高精度測量。
3.應(yīng)用計算機操作畫面大、明亮、清晰。
4.校正、測定、操作很簡單,可選擇2種測量范圍,可測2~120um的金屬鍍層。
5.使用者姓名、批號可登錄在頻道內(nèi),共有40個頻道可以登錄且有利于做頻道的管理。
6.每個頻道的測量數(shù)據(jù)可以被儲存下來,測量資料亦可以被其所設(shè)定之統(tǒng)計項目執(zhí)行統(tǒng)計處理。
7.統(tǒng)計處理、柱狀圖、分布圖、×-R管制圖,隨時可查閱。
8.可設(shè)定膜厚上下限管制,對異常值會提示告知。
9.探頭的探針破損時,可以更換探針并以低價修理。



































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