摘要分光橢偏儀SEMILAB在線光譜橢偏儀SE-3000在線光譜橢偏儀SE-3000,在線光譜橢偏儀μSE-2500,分光橢偏儀SE-2100 (旋轉(zhuǎn)補償器型),分光橢偏儀SE-2000 (旋轉(zhuǎn)補償器型),分光橢偏儀SE-2000 (旋轉(zhuǎn)補償器型),激光橢圓儀LE-510...

摘要 Auto SE - 自動化薄膜測量工具全自動快速橢偏儀

摘要日本Photonic Lattice, Inc.基于自研的光子晶體技術(shù)開發(fā)的一款高速膜厚測量儀ME-210，與傳統(tǒng)點測的橢偏儀不同，ME-210通過點掃描的方式可以快速的得到整面的膜厚信息，每分鐘可取得1000個點的膜厚數(shù)據(jù)，6寸晶圓3分鐘可取得整面的膜厚mappin...

摘要 TPYLR-500型橢偏儀冷熱臺 TPYLR-500型橢偏儀冷熱臺 橢偏儀作為一種非破壞性、高精度的光學(xué)表征設(shè)備，廣泛應(yīng)用于薄膜厚度、折射率、吸收系數(shù)等材料參數(shù)的測量

摘要 SpecEl橢偏儀

摘要光譜橢偏儀可配置從DUV到NIR的波長范圍。DUV范圍可用于測量超薄膜，如納米厚度范圍。比如硅晶片上的原生氧化物，其通常僅為約1至2nm厚。當(dāng)用戶需要測量許多材料的帶隙時，深紫外光譜橢偏儀也是的?？梢娀蚪t外范圍用于測量相對厚或非常厚的涂層。當(dāng)然，如果必須確定光學(xué)常數(shù)...

摘要 全光譜橢偏儀SE950,適用于各種功能材料的光學(xué)常數(shù)測量和光譜特性分析...

摘要上海中晨數(shù)字技術(shù)設(shè)備有限公司具有多年的定制加工經(jīng)驗，JBG2021-W36自動橢偏儀采用進口橢圓偏光關(guān)鍵部件，將試驗室中的設(shè)備創(chuàng)新地集成為自動運作且可以和生產(chǎn)線無縫銜接的在線油膜重量和厚度測量儀。自JBG07型開始，歷經(jīng)多年持續(xù)不斷地迭代更新，現(xiàn)推出新型的JBG202...

摘要 自JBG07型開始，歷經(jīng)多年持續(xù)不斷地迭代更新，現(xiàn)推出新型的JBG2021-W72自動橢偏儀。較前期型號，更為緊湊，布局合理，5軸機械手臂非常靈活。大批量測試大程度減少人員勞動強度，提升效率，減小誤差。

摘要 自JBG07型開始，歷經(jīng)多年持續(xù)不斷地迭代更新，現(xiàn)推出新型的JBG2021-W6自動橢偏儀。較前期型號，更為緊湊，布局合理。JBG2021-W6自動橢偏儀以光譜型橢偏儀薄膜厚度測量為技術(shù)基礎(chǔ)，配合油膜清除系統(tǒng)，實現(xiàn)鍍錫（鉻）板表面油膜重量的測量。

摘要 全自動化&高集成度&可視化光斑操作簡單，測試快速，為一般操作工人設(shè)計一鍵式全自動快速橢偏儀 Auto SE——新型的全自動薄膜測量分析工具。采用工業(yè)化設(shè)計，操作簡單，可在幾秒鐘內(nèi)完成全自動測量和分析，并輸出分析報告。是用于快速薄膜測量和器件質(zhì)量控制理想的解決方案。

摘要 Smart SE智能型多功能橢偏儀是一款針對單層和多層薄膜進行簡單，快速，精確表征和分析的工具。多功能性設(shè)計，配置靈活，具備多角度測量能力，可方便實現(xiàn)在線與離線配置切換。

摘要 Film Sense FS-1™多波長橢偏儀采用壽命長 LED 光源和非移動式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可靠地薄膜測量。大多數(shù)厚度 0–1000 nm 的透明薄膜只需要簡單的 1 秒測量，就可以獲得非常精密和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。

摘要 SE-VE光譜橢偏儀 本設(shè)備基于單旋轉(zhuǎn)補償器調(diào)制技術(shù)一次性獲取Psi/Delta、N/C/S、反射率等光譜，可實現(xiàn)基底上單層到多層薄膜的膜厚、光學(xué)常數(shù)的快速分析表征。

摘要 激光橢偏儀 SE 400adv 測量透明薄膜的厚度和折射率指數(shù)，具有測量速度、亞埃級別的厚度精度和折射率測定的精度。多角度測量允許使用激光橢偏儀 SE 400adv 表征吸收膜特征。

摘要 光譜橢偏儀 SENpro 具有操作簡單，測量速度快，能對不同入射角的橢偏測量數(shù)據(jù)進行組合分析等特點。光譜范圍為 370 到 1050 nm。SENpro 的光譜范圍與精密的 SpectraRay/4 軟件相結(jié)合，可輕易地確定單層膜和復(fù)合層疊膜的厚度和折射率。

摘要 Innovative˙Powerful˙Affordable設(shè)計創(chuàng)新˙功能*˙經(jīng)濟實惠FilmSenseFS-1多波長橢偏儀采用壽命長LED光源和非移動式部件橢偏探測器，可在操作簡單的緊湊型橢偏儀中實現(xiàn)快速和可靠地薄膜測量

摘要 Radiation 全光譜橢偏儀

摘要 Radiation 全光譜反射儀

摘要 SE500橢偏儀薄膜測量薄膜材料的厚度、NK性能250-1700nm產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)

摘要 SE300橢偏儀400nm到1000nm測量薄膜材料厚度產(chǎn)品簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)

摘要 SE200BA-M300橢偏儀測量250nm到1000nm薄膜材料厚度分析設(shè)備產(chǎn)品簡介橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)

摘要全自動光譜型橢偏儀儀器介紹： UVISEL2是一款革新的全自動光譜型橢偏儀。繼承并發(fā)展了經(jīng)典機型UVISEL的高準(zhǔn)確性、高靈敏度和高穩(wěn)定性等技術(shù)特點的同時，配備革新的可視系統(tǒng)，多達(dá)8個尺寸微光斑選項，最小達(dá)3585m2，適用于所有薄膜材料研究領(lǐng)域。是目前市場...

摘要 用于橢偏儀或其它光譜儀等設(shè)備。

摘要 太陽能電池專用橢偏儀

摘要 多角度激光橢偏儀(PH-LE型)專門針對晶硅太陽能電池絨面上的減反膜測量，能夠測量薄膜厚度及其光學(xué)常數(shù)，使用632.8nm波長氦氖激光器，具有的精確度和準(zhǔn)確度

摘要 光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應(yīng)用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池

摘要 簡要描述：EMPro是針對研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的型多入射角激光橢偏儀。

摘要 簡要描述：穆勒矩陣橢偏儀

摘要 簡要描述：SE-VM 是一款高精度快速測量光譜橢偏儀?？赏ㄟ^橢偏參數(shù)、 透射/反射率等參數(shù)的測量，快速實現(xiàn)光學(xué)參數(shù)薄膜和納米結(jié)構(gòu)的表征分析，適用于薄膜材料的快速測量表征。

摘要 簡要描述：SE-Mapping 光譜橢偏儀是一款可定制化Mapping繪制化測量光譜橢偏儀。

摘要 簡要描述：SE-PV 是一款光伏行業(yè)領(lǐng)域?qū)Ｓ眯凸庾V橢偏儀，針對光伏行業(yè)絨面單晶硅或多晶硅太陽能電池表面減反膜測量定制開發(fā)，快速實現(xiàn)薄膜物性表征分析。

摘要 簡要描述：SE-VE 是一款、快速測量光譜橢偏儀，緊湊集成設(shè)計，使用簡便，可一鍵快速測量表征各式光學(xué)薄膜膜厚以及光學(xué)常數(shù)等信息。

摘要 UVISEL 研究級經(jīng)典型橢偏儀

摘要產(chǎn)品詳情簡介儀器簡介：UVISEL2是一款革新的全自動光譜型橢偏儀。繼承并發(fā)展了經(jīng)典機型UVISEL的高準(zhǔn)確性、高靈敏度和高穩(wěn)定性等技術(shù)特點的同時，配備革新的可視系統(tǒng)，多達(dá)8個尺寸微光斑選項，最小達(dá)3585m2，適用于所有薄膜材料研究領(lǐng)域。是目前市場上無二的機型。 詳...

摘要 Gaertner Stokes Waferskan橢偏儀LSE-WS，Gaertner stokes waferskan™ ellipsometer LSE-WS

摘要 Gaertner stokes 微點橢偏儀LSE-MS，Gaertner stokes microspot ellipsometer LSE-MS

摘要 橢偏儀是一種用于探測薄膜厚度、光學(xué)常數(shù)以及材料微結(jié)構(gòu)的光學(xué)測量儀器

摘要 通過橢偏參數(shù)、透射/反射等參數(shù)測量，實現(xiàn)各種單層到多層的各向同性/各向異性薄膜膜厚、光學(xué)常數(shù)快速表征

摘要 ME-L 是一款科研級全自動高精度穆勒矩陣型橢偏儀，凝聚了頤光科研團隊在橢偏技術(shù)多年的投入，其采用行業(yè)前沿的創(chuàng)新技術(shù)，包括消色差補償器、雙旋轉(zhuǎn)補償器同步控制、穆勒矩陣數(shù)據(jù)分析等。

摘要 圖片簡介SE500橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)

摘要 圖片簡介SE300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)

摘要 圖片簡介橢偏儀——SE200BA-M300橢偏儀是一種利用光的偏振態(tài)變化來進行薄膜性質(zhì)表征的儀器，主要用來測量薄膜材料的厚度、NK參數(shù)等性質(zhì)

摘要橢偏儀測量介電常數(shù)GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電...

摘要靜態(tài)介電常數(shù)橢偏儀GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法GB/T1693-2007 硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法 ASTM D150/IEC 60250固體電絕緣材料的(恒久電...