摘要 核心參數(shù)角度偏差-重復(fù)性0.0001最小步進(jìn)角度0.0001發(fā)生器功率3kW儀器種類多晶衍射儀

摘要 核心參數(shù)產(chǎn)地類別進(jìn)口角度偏差不超過±0.01重復(fù)性0.0001最小步進(jìn)角度0.0001發(fā)生器功率4kW儀器種類多晶衍射儀

摘要 X射線衍射儀

摘要 便攜式衍射儀材料物相分析儀:應(yīng)用于文博和考古、 材料物相分析、爆炸物成分分析、石油錄井、頁(yè)巖氣勘探、地質(zhì)調(diào)查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等物相分析。

摘要 便攜式XRD粉末材料鑒別 晶體結(jié)構(gòu)分析儀 :應(yīng)用于文博和考古、 材料物相分析、爆炸物成分分析、石油錄井、頁(yè)巖氣勘探、地質(zhì)調(diào)查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等物相分析。

摘要 儀景通便攜XRD衍射儀 材料物相分析儀 材料物相分析儀:應(yīng)用于文博和考古、 材料物相分析、爆炸物成分分析、石油錄井、頁(yè)巖氣勘探、地質(zhì)調(diào)查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等物相分析。

摘要 儀景通小型臺(tái)式X射線衍射儀石油錄井分析儀應(yīng)用描述：石油巖心錄井、化工、醫(yī)藥、環(huán)境土壤、刑偵、考古、海關(guān)檢測(cè)、材料研究等物相定性定量分析、晶格常數(shù)分析、應(yīng)力分析。

摘要 儀景通小型臺(tái)式X射線衍射儀石油錄井分析儀應(yīng)用描述：石油巖心錄井、化工、醫(yī)藥、環(huán)境土壤、刑偵、考古、海關(guān)檢測(cè)、材料研究等物相定性定量分析、晶格常數(shù)分析、應(yīng)力分析。

摘要 儀景通便攜X射線晶狀衍射儀 材料物相分析儀:應(yīng)用于文博和考古、 材料物相分析、爆炸物成分分析、石油錄井、頁(yè)巖氣勘探、地質(zhì)調(diào)查、全巖礦物成分分析、耐火材料、陶瓷材料等物相分析。

摘要 簡(jiǎn)要描述：OLYMPUS懷化代理-上海玖橫儀器有限公司，BTX-II 分析儀XRD BT-X緊湊型臺(tái)式X射線衍射儀OLYMPUS光譜儀，BTX使用一種專門開發(fā)的直接激勵(lì)電荷耦合器件（CCD）“攝像頭"，可以同時(shí)為X射線衍射和X射線熒光測(cè)量收集 X射線光子數(shù)據(jù)。

摘要產(chǎn)品簡(jiǎn)介 D2 PHASER是德國(guó)布魯克AXS公司推出的桌面型多晶X射線衍射儀，通過Bragg-Brentano幾何，可以獲得高質(zhì)量的衍射數(shù)據(jù)，用于定性、定量分析、晶粒大小及微觀應(yīng)力分析、結(jié)晶度分析以及...

摘要產(chǎn)品簡(jiǎn)介 布魯克AXS公司全新的D8 ADVANCE X射線衍射儀，采用創(chuàng)造性的達(dá)芬奇設(shè)計(jì)，通過TWIN-TWIN光路設(shè)計(jì)，成功實(shí)現(xiàn)了BB聚焦幾何下的定性定量分析和平行光幾何下的薄膜掠入射GID分析、薄...

摘要 AL-Y3000型衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的*產(chǎn)品。

摘要 產(chǎn)品介紹Fenix是一款微型臺(tái)式x射線衍射(xRD)和X射線熒光光譜儀(xRF)聯(lián)用儀器Fenix的技術(shù)源自NASA火星探測(cè)技術(shù)

摘要 產(chǎn)品介紹基于相同的原理

摘要 應(yīng)用領(lǐng)域：電子衍射是近代物理實(shí)驗(yàn)中驗(yàn)證微觀粒子具有波粒二象性的一個(gè)重要的實(shí)驗(yàn)

摘要 理學(xué)臺(tái)式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。

摘要 日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動(dòng)多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計(jì)量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測(cè)量

摘要 （X射線衍射儀） XRD-7000

摘要 （X射線衍射儀） XRD-6100

摘要產(chǎn)品簡(jiǎn)介:便攜式X射線衍射儀XRD一、產(chǎn)品技術(shù)原理/工作原理（1頁(yè)）產(chǎn)品原理：（文字+圖片）當(dāng)一束單色X射線入射到晶體時(shí)，由于晶體是由原子規(guī)則排列成的晶胞組成，這些規(guī)則排列的原子間距離與入射X射線波長(zhǎng)有相同數(shù)量級(jí)，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產(chǎn)生...

摘要 儀器簡(jiǎn)介：島津XRD－7000型X射線衍射儀采用θ/θ掃描方式,樣品水平放置，可提高不同類型樣品的應(yīng)對(duì)能力，如松散的粉末樣品、大型的零器件樣品等，掃描角度范圍－12°～164°，可滿足從低角度至高角度范圍的物相分析

摘要儀器簡(jiǎn)介：島津X射線衍射儀XRD－6100采用θ/2θ掃描方式,島津的全聚焦彎晶后單色器，具有高的X射線衍射效率，達(dá)到50%以上；獨(dú)立的X射線光管控制系統(tǒng),提高光管使用壽命的同時(shí),也降低了操作人員接觸X射線輻照的幾率，達(dá)到本質(zhì)安全防護(hù)等級(jí)；該機(jī)型整體配置技術(shù)成熟,穩(wěn)定...

摘要 技術(shù)特點(diǎn)·XRD-7000系列配備了樣品水平型測(cè)角儀，能夠測(cè)定超大型樣品

摘要 產(chǎn)品特點(diǎn)易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時(shí)代?。厣渚€衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等

摘要 理學(xué)的MiniFlex是功能齊全的通用型臺(tái)式X射線衍射儀，可進(jìn)行多晶材料的定性和定量分析。

摘要 日本理學(xué)SmartLab帶制導(dǎo)軟件的自動(dòng)多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計(jì)量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測(cè)量

摘要 理學(xué)臺(tái)式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認(rèn)為的X射線衍射儀方式。

摘要 產(chǎn)品特點(diǎn)：AL-Y3500A組合多功能X射線衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析 與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的*產(chǎn)品。

摘要簡(jiǎn)要描述： CubiX3 X射線衍射儀是帕納科公司(原飛利浦分析儀器)*開發(fā)出的專門用于工業(yè)領(lǐng)域產(chǎn)品開發(fā)，質(zhì)量控制的X射線衍射儀。廣泛應(yīng)用于鋁行業(yè)，鈦白粉行業(yè)，石油化工行業(yè)，鋼鐵行業(yè)等工業(yè)領(lǐng)域。采用了新型X光管――第二代陶瓷X光管；新型測(cè)角儀――采用DOPS直接光學(xué)定...

摘要簡(jiǎn)要描述： Empyrean銳影X射線衍射系統(tǒng)是荷蘭帕納科公司繼XPert 專家系統(tǒng)后，十年一劍，推出的全新X射線衍射儀，是可滿足當(dāng)前4大類X-射線分析要求的平臺(tái)，即衍射、散射、反射和CT影像X射線分析平臺(tái)，樣品可以是粉末，薄膜，納米材料，塊狀材料。它擁有新開發(fā)的X...

摘要 易操作、多功能、多用途的X射線衍射儀的新時(shí)代?。厣渚€衍射儀可在大氣中無損分析樣品，進(jìn)行物質(zhì)的定性分析、晶格常數(shù)確定和應(yīng)力測(cè)定等

摘要 交叉光學(xué)（BP）系統(tǒng)是X射線衍射儀發(fā)展過程中突破性技術(shù)進(jìn)步，即衍射儀測(cè)角儀兩套光學(xué)系統(tǒng)并存，軟件控制,實(shí)現(xiàn)在發(fā)散光學(xué)系統(tǒng)（B）與平行光學(xué)系統(tǒng)（P）相互切換，滿足不同測(cè)試目的需要，拓展衍射儀應(yīng)用領(lǐng)域

摘要 廣州深華公司提供的XD2/3系列衍射儀質(zhì)量過硬，物美價(jià)廉

摘要 廣州深華公司提供的XD6/7系列衍射儀質(zhì)量過硬，物美價(jià)廉

摘要 （1）簡(jiǎn)介Aeris研究版提供的快速、可靠和準(zhǔn)確的材料分析

摘要 X射線衍射儀 布魯克 D2 PHASER

摘要 AL-Y3500A衍射儀是為材料研究和工業(yè)產(chǎn)品分析設(shè)計(jì)的，是常規(guī)分析與特殊目的測(cè)量相結(jié)合的*產(chǎn)品。

摘要 組合多功能X射線衍射儀AL-Y3500

摘要 設(shè)備介紹X射線衍射儀UltimaIV系列是一種高性能多功能的粉晶X射線衍射儀，它采用了理學(xué)的CBO交叉光學(xué)系統(tǒng)，可以進(jìn)行從普通粉末樣品到包括In-Plane在內(nèi)的薄膜樣品測(cè)試

摘要 X射線衍射儀XRD-6100

摘要 X射線衍射儀XRD-7000

摘要 本產(chǎn)品可精確測(cè)量殘余奧氏體的含量，對(duì)于熱處理的控制是非常重要的，X射線衍射法（XRD）是可以測(cè)量殘余奧氏體百分比含量低至0.5%的方法，殘余奧氏體的測(cè)量遵循國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)ASTME975-03規(guī)則