資料簡介
GT-BIX系列動態(tài)高溫老化柜是武漢格特機電自主研發(fā)的通電動態(tài)式高溫老化測試設(shè)備,區(qū)別于傳統(tǒng)靜態(tài)高溫烘烤設(shè)備,核心優(yōu)勢為支持樣品通電運行狀態(tài)下的實時高溫老化測試,可精準(zhǔn)還原產(chǎn)品實際工作工況,有效篩查電子元器件性能漂移、焊點虛焊、線路老化、模組衰減等隱性質(zhì)量缺陷,是工業(yè)產(chǎn)品可靠性驗證、壽命測試、品質(zhì)篩查的核心試驗設(shè)備。
設(shè)備搭載PLC智能程控系統(tǒng)與獨立供電、網(wǎng)絡(luò)通訊模塊,支持長時間不間斷連續(xù)作業(yè),溫控精準(zhǔn)、溫場均勻、安全防護,廣泛適配電子電器、新能源、車載零部件、電工儀表、光電模組等多行業(yè)產(chǎn)品老化測試,契合國標(biāo)可靠性試驗規(guī)范,兼顧批量測試效率與試驗數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性。
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