“哪種分析儀我的應(yīng)用？”

我們經(jīng)常被問到這個(gè)問題。答案在很大程度上取決于您正在執(zhí)行的分析類型、您需要的準(zhǔn)確度以及您正在分析的組件類型。當(dāng)您的應(yīng)用是測(cè)量PCB、半導(dǎo)體和電子器件連接器上的鍍層厚度時(shí)，我們的回答始終是“您需要了解FT160”。

當(dāng)談到分析時(shí)，電子器件是一項(xiàng)挑戰(zhàn)。的障礙是這些部件的尺寸非常小。因此您需要一臺(tái)具有小光點(diǎn)尺寸的超高精度儀器。盡管這些部件的尺寸可能很小，但PCB或晶片的尺寸可能相當(dāng)大。這表明簡(jiǎn)單地找到您所需測(cè)量的部件非常耗時(shí)。

在考慮這些挑戰(zhàn)的基礎(chǔ)上開發(fā)了FT160。FT160專為測(cè)量大型組件的微小部件上的鍍層而設(shè)計(jì)，包括一系列使鍍層質(zhì)量控制在生產(chǎn)中變得更加容易的部件。

下文介紹了其中一些部件以及其有所幫助的原因：

的光學(xué)系統(tǒng)，可精確測(cè)量小于50µm的特征

FT160配備有創(chuàng)新型毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)，可產(chǎn)生30µm的高強(qiáng)度光束，用于精確測(cè)量半導(dǎo)體晶片和超小型組件的最小部件。毛細(xì)管光學(xué)系統(tǒng)已設(shè)計(jì)成可大幅減少不需要的“光暈效應(yīng)”，這種光暈效應(yīng)會(huì)導(dǎo)致一些高能測(cè)量中不符合需要的光點(diǎn)尺寸增加。

高靈敏度SDD探測(cè)器，快速提供準(zhǔn)確結(jié)果

XRF儀器中的探測(cè)器不僅能決定測(cè)量對(duì)象，還能決定獲得結(jié)果的速度。探測(cè)器越靈敏，精度越高，則測(cè)量時(shí)間越短。FT160配備有高靈敏度SDD探測(cè)器，可輕松分辨組件不同層中存在的多種元素，并有效地將舊技術(shù)的計(jì)數(shù)率提高一倍，從而確?？焖佾@得準(zhǔn)確結(jié)果。

優(yōu)化樣品光源，實(shí)現(xiàn)高準(zhǔn)確度

正如前文所述，有時(shí)簡(jiǎn)單地找到合適的測(cè)量區(qū)域可能充滿困難。如果光源不太好，則可能會(huì)導(dǎo)致更大的挑戰(zhàn)，因?yàn)槟赡苷J(rèn)為您正在測(cè)量正確的點(diǎn)，但這實(shí)際上（真實(shí)情況）是光線造成的錯(cuò)覺。FT160采用環(huán)形和同軸光源的組合，以減少可能導(dǎo)致測(cè)量誤差的模糊陰影和反射。

16倍數(shù)字變焦的高分辨率相機(jī)

在上述光源的幫助下，我們?cè)贔T160中納入一臺(tái)高分辨率相機(jī)。這款高質(zhì)量相機(jī)可變焦16倍，將失真降至，因此您可清晰、準(zhǔn)確地查看半導(dǎo)體或PCB表面。這使得FT160更加易于使用，并有助于加快樣品裝載時(shí)間。

自動(dòng)化控制器軟件

FT160具有智能控制器軟件，可自動(dòng)定位精確的測(cè)量點(diǎn)。僅需在屏幕上識(shí)別測(cè)量點(diǎn)，隨后儀器將進(jìn)行分析，并使用圖案和形狀匹配技術(shù)找到正確位置。

為您的特定應(yīng)用選擇配置方案

FT160配備有便于裝載樣品的大型樣品門以及可容納尺寸為400x300x100mm的各種樣品的大型樣品艙。這種尺寸非常適合微型連接器和引線框架。但是，如果您需要測(cè)量大型零部件，例如PCB，您可選擇能容納尺寸為600mmx600mm的電路板或組件的大型樣品艙。

符合行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)

值得一提的是，使用FT160作為測(cè)量方法將滿足ISO 3497、ASTM B568和DIN 50987標(biāo)準(zhǔn)以及許多IPC規(guī)范的要求，包括IPC-4552A和IPC-4556。