產(chǎn)品介紹：
由于振動或空氣湍流干擾,進行大量光學器件測試或復雜的光學系統(tǒng)的準確度干涉測量是很困難的。使用所謂的"實時"相位測量干涉儀經(jīng)常是碰運氣或不成功的。4D Technology的PhaseCam系列是進行大量光學器件測試或復雜的光學系統(tǒng)的準確度干涉測量的*的解決方法。PhaseCam NIR系統(tǒng)可進行準確的表面和波前測量，結(jié)構(gòu)緊湊，重量輕，近紅外波長（1.053，1.064和1.3微米1:55）。進行干涉測量的器件可分別安裝在較遠并且無防震功能的光學平臺, PhaseCam也可以容易得到高質(zhì)量的測量,這歸功于PhaseCam的快速測量能力使它很容易降低空氣湍流產(chǎn)生的影響,更大量降低了測試周期,提高生產(chǎn)率。讓您不須再因為環(huán)境的影響而犧牲了準確度。 
參數(shù)：
波長：1.053到1.064微米
配置：光纖耦合頭和源模塊
測量頭尺寸：小
傳感器：1000 x 1000 px
控制：電動
應用：長距離，遠程安裝，NIR波長的大型焦點光學器件
4D Technology的PhaseCam NIR和IR激光干涉儀可提供1.053到10.6微米波長的球形和平面IR光學器件和系統(tǒng)的準確表面和波前測量。這些儀器的采集時間不到30微秒，對振動和空氣湍流不敏感，可以在困難的環(huán)境中使用，例如生產(chǎn)車間，潔凈室和環(huán)境測試室。