艾思荔模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)是對(duì)電子產(chǎn)品做振動(dòng)測(cè)試是在對(duì)其產(chǎn)品進(jìn)行一連串可控制的振動(dòng)模擬，測(cè)試產(chǎn)品在壽命周期中，因振動(dòng)力所產(chǎn)生的破壞或是能否承受運(yùn)送中環(huán)境因素的考驗(yàn)，從而可以確定產(chǎn)品設(shè)計(jì)包裝及功能的要求標(biāo)準(zhǔn)。據(jù)此可以減少成本的投資及資源的浪費(fèi)。

　　模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)試驗(yàn)設(shè)備是針對(duì)各種包裝物品、 PC板、電器產(chǎn)品等摸擬運(yùn)輸過程中， 因?yàn)檎駝?dòng)力所產(chǎn)生的破壞，試驗(yàn)結(jié)果可作為設(shè)計(jì)包裝參考。根據(jù)不同的目的也有不同的方法如共振駐留、循環(huán)掃描、隨機(jī)振動(dòng)及應(yīng)力篩檢等。在模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)運(yùn)輸電子產(chǎn)品中會(huì)受到哪些振動(dòng)效應(yīng)呢?

　　1、結(jié)構(gòu)的強(qiáng)度;

　　2、結(jié)合物的松脫;

　　3、保護(hù)材料的磨損;

　　4、零組件的破損;

　　5、電子組件之接觸不良;

　　6、電路短路及斷續(xù)不穩(wěn);

　　7、各件之標(biāo)準(zhǔn)值偏移;

　　8、提早將不良件篩檢出。

　　在以上電子產(chǎn)品運(yùn)輸中受到振動(dòng)影響，模擬運(yùn)輸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)試驗(yàn)設(shè)備制造商需依據(jù)零件、結(jié)構(gòu)、包裝與運(yùn)送過程間之共振關(guān)系，改良其共振因素而去設(shè)計(jì)包裝。而振動(dòng)測(cè)試的程序，須評(píng)估訂定試驗(yàn)規(guī)格，夾具設(shè)計(jì)之真實(shí)性，測(cè)試過程中之功能檢查及zui后試件之評(píng)估、檢討和建議。