1、適用范圍：本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定用以測定電子組件（以下簡稱組件）于運輸或使用中承受振動之耐久性能之試驗方法Ⅰ、Ⅱ及Ⅲ。

   注：試驗方法Ⅰ適用于測定對一般振動之耐久性，試驗方法Ⅱ適用于測定共振點及試驗方法Ⅰ、Ⅲ前后共振點之偏距，試驗方法Ⅲ適用于測定在共振點之耐久性。

2、裝置：振動裝置應(yīng)能作表中所示各種試驗且符合下列條件。

（1）振動波形及失真率：施加于供試品之振動波形為正弦波，供試品安裝位置之振動加速度波形之備波含有率應(yīng)為25%以下。

（2）振動振幅：規(guī)定振動方向之振幅容許差，須為規(guī)定值之±15%以內(nèi)。

（3）與規(guī)定振動方向垂直之振動：于供試品安裝位置，與規(guī)定振動方向垂直之振動，不論任何方向，其振幅應(yīng)為規(guī)定方向之25%以下。

（4）振動頻率容許差：50Hz以下就為±1Hz，超過50Hz時應(yīng)為±2%。

（5）掃描（1）方法：原則是為對數(shù)掃描，但平均掃描亦可。

                   注：（1）1次掃描，例如10—55——10Hz，是指在規(guī)定振動頻率范圍作1次往復(fù)之頻率變化。

3、準(zhǔn)備

3．1 供試品之安裝：將供試品依組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方法，直接或使用夾具堅固地安裝于振動臺上。使用夾具時，須能施加振動于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定之方向，且夾具應(yīng)具足夠機(jī)械強(qiáng)度，安裝后亦不得松動或發(fā)生共振，組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定下列任一種安裝方法。

                  （1） 固定組件本體（有導(dǎo)線之組件，亦同時固定導(dǎo)線）。

                  （2） 僅固定導(dǎo)線。

4、試驗

4．1 前處理：原則上不作前處理。但有特別需要時，依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。

4．2 初期測定：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行，檢查外觀。

4．3 試驗方法：依下列各項施行。如裝置產(chǎn)生磁導(dǎo)且供試品易受磁場影響時，于組件中應(yīng)規(guī)定其大允許值。

                   4．3．1 試驗方法種類：試驗方法分為Ⅰ（掃描耐久試驗）、Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）及Ⅲ（共振點耐久試驗）三種。

                                   （1）試驗方法Ⅰ（掃描耐久試驗）：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定，照下表施行（參照圖）。

                                            振動原則上依次施加于供試品互相垂直之方向。試驗時間各方向均相同，合計6小時。

                                                                                                  表

                         （2）試驗方法Ⅱ（共振點偏移檢出試驗）：本試驗是于4．3．1（1）及4．3．1（3）試驗前后施行，以檢出供試品這共振頻率。檢出共振時之振幅與掃描耐久試驗相同。但如由于減小振幅更能檢出振動特性。可減小振幅。

                                                                                                                                                                          *次修訂：66年4月20日

                                                                                                                                                                                                   （共2頁）

公  布  日  期                                                                                     修 訂日 期

62年11月8日               經(jīng) 濟(jì) 部 中 央 標(biāo) 準(zhǔn) 局 印 行                                                  年  月  日                                                                       

 CNS3629， C 6016                                                   —2—

                在掃描中檢出共振點時，減低規(guī)定之掃描程度，必要時可停止掃描。于掃描耐入試驗前后檢出之共振頻率，均應(yīng)予以記錄。

                     （3）試驗方法Ⅲ（共振點耐久試驗）：本試驗是就規(guī)定各振動方向之振動頻率，依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定，于組件標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定                  

                                  之振動頻率范圍內(nèi)作下列時間之試驗。

                                  10分鐘     30分鐘      90分鐘    10小時      10周（cycle）

                4．3．2  電負(fù)載：組件標(biāo)準(zhǔn)有規(guī)定時，于4．3．1（1）、（2）、（3）試驗中，施加電負(fù)載。

                4．3．3  后處理：原則上不作處后處理，但如有特別需要時，使組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定。

                4．5 終測定：依組件標(biāo)準(zhǔn)之規(guī)定施行，且檢查外觀。

 5、組件標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)規(guī)定事項

（1）         安裝（安裝用具及安裝方法）（參照3．1節(jié)）

（2）         前處理條件（有需要時）（參照4．1節(jié)）

（3）         初期測定項目（參照4．2節(jié)）

（4）         磁場影響（參照4．3節(jié)）

（5）         試驗方法種類及試驗條件（參照4．3．1（1）、（2）、（3））

（6）         電負(fù)載條件（參照4．3．2節(jié)）

（7）         振動試驗中之測定項目（有需要時）（參照4．3．3節(jié)）

（8）         后處理條件（有需要時局（參照4．4節(jié)）

（9）         終測定項目（參照4．5節(jié)）

（10）      其他特別需要事項