一、試驗標準依據(jù)與應用必要性

電子電器元件在使用、運輸及存儲過程中，常面臨溫度急劇變化環(huán)境，易引發(fā)材料疲勞、焊點開裂、接觸不良、性能漂移等問題。冷熱沖擊試驗是用于驗證產(chǎn)品環(huán)境適應性、開展可靠性篩選與質(zhì)量控制的常用測試手段，相關測試設備需符合國家、國際及行業(yè)通用試驗標準，以保障試驗過程規(guī)范、數(shù)據(jù)可追溯、結果具備參考價值。

本系列設備可支持開展以下標準對應的試驗：

· GB/T 2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗 溫度變化試驗

· GJB 150.5A-2009 軍·用裝備實驗室環(huán)境試驗方法 溫度沖擊試驗

· GJB 360B-2009 電子及電氣元件試驗方法

· GB/T 2423.1-2008/IEC 60068-2-1:2007 低溫試驗方法

· GB/T 2423.2-2008/IEC 60068-2-2:2007 高溫試驗方法

· GB/T 10589-2008、GB/T 11158-2008 試驗箱技術條件

上述標準適用于各類電子元器件、組件、汽車電器、材料等產(chǎn)品的型式檢驗、出廠檢驗與可靠性驗證，可滿足生產(chǎn)企業(yè)、科研機構、檢測及認證等單位的常規(guī)測試需求。

二、標準對試驗設備的基本要求

1.溫度范圍與沖擊區(qū)間滿足標準規(guī)定的高溫、低溫及溫度變化參數(shù)要求；

2.溫度均勻性、波動度等指標符合試驗箱技術條件與環(huán)境試驗方法要求；

3.具備穩(wěn)定的加熱、制冷與風道循環(huán)系統(tǒng)，可實現(xiàn)設定條件下的溫度交變；

4.具備程序控制功能，可按試驗標準設定溫度、保持時間、循環(huán)次數(shù)等參數(shù)；

5.配置完好的安全保護裝置，保障設備與測試樣品運行安全。

三、海達可程式冷熱沖擊試驗箱（三箱式）產(chǎn)品介紹

產(chǎn)品概況

海達 HD-E703 系列三箱式可程式冷熱沖擊試驗機，為電子元氣件、電工、汽車電器及相關材料提供溫度沖擊環(huán)境測試條件，可用于可靠性試驗、產(chǎn)品篩選及質(zhì)量控制，適用于電子、家電、汽車、科研、檢測等領域。

結構與配置（基于產(chǎn)品實測參數(shù)客觀描述）

1.整體式三箱結構，設高溫預熱區(qū)、低溫預冷區(qū)、測試區(qū)，通過風門切換實現(xiàn)氣流循環(huán)，設備底部配有腳輪與腳杯，便于移動與定位。

2.箱體外殼采用冷軋鋼板加工處理，內(nèi)膽采用 SUS304 不銹鋼，保溫層采用聚氨酯硬質(zhì)發(fā)泡與玻璃纖維棉復合結構。

3.箱門配硅膠密封條與防爆式把手，測試區(qū)預留 Φ50mm 引線測試孔及隔熱密封配件，可滿足部分樣品帶電測試需求。

4.采用進口品牌壓縮機組成二元式冷凍系統(tǒng)，使用環(huán)保制冷劑，搭配板式換熱器，保障低溫穩(wěn)定運行。

5.采用液晶觸摸式可編程控制器，支持 PID 自動調(diào)節(jié)，溫度顯示分辨率 0.1℃，配置 RS232、USB 等接口，便于數(shù)據(jù)存儲與導出。

6.具備超溫、過載、超壓、欠相 / 逆相、漏電、故障報警及自動停機等多重保護功能。

核心技術參數(shù)（以型號 HD-E703-50S/HD-E703-100 為例）

· 內(nèi)容積：50L / 100L

· 高溫范圍：RT~170℃

· 低溫范圍：-75℃~RT

· 測試區(qū)溫度：-40℃~150℃、-55℃~150℃、-65℃~150℃（按機型配置）

· 溫度沖擊范圍：高溫 60℃~150℃，低溫-10℃~-40℃/-55℃/-65℃（按機型配置）

· 溫度波動度、均勻度符合 GB/T 10589、GB/T 11158 及環(huán)境試驗方法標準要求

· 升溫、降溫速率及儲熱、儲冷時間符合產(chǎn)品設計指標，可滿足常規(guī)溫度沖擊試驗需求

· 電源：三相 380V 50Hz

適用樣品類型

可用于芯片、電阻、電容、連接器、PCB 組件、車載電子部件、各類電子模塊等電子電器元件及材料的溫度沖擊測試。

四、合規(guī)產(chǎn)品推薦

結合電子電器元件行業(yè)常規(guī)測試需求，推薦以下兩款機型：

1.HD-E703-50S 可程式冷熱沖擊試驗機內(nèi)容積 50L，適合小型電子元器件、芯片、連接器等樣品的可靠性測試與篩選，占用空間較小，適配研發(fā)及小批量質(zhì)檢場景。

2.HD-E703-100 可程式冷熱沖擊試驗機內(nèi)容積 100L，適合 PCB 組件、中小型電子模塊、車載電器部件等樣品測試，滿足批量試驗與常規(guī)型式檢驗需求。

五、說明（合規(guī)提示）

1.本內(nèi)容基于產(chǎn)品技術文件客觀表述，不涉及功效斷言、絕對化描述及安全性保證，設備使用效果與測試結果受樣品特性、操作規(guī)范、環(huán)境條件等因素影響。

2.產(chǎn)品技術參數(shù)、外觀、配置可能因優(yōu)化升級調(diào)整，具體以廠家正式產(chǎn)品規(guī)格書與合同約定為準。

3.設備使用前請仔細閱讀操作說明書，按相關試驗標準與安全規(guī)范操作。