2026年重磅發(fā)布 – 在離子遷移測試領域，測試速度、電壓能力與通道效率往往是用戶最關注的三大核心指標。為滿足更高標準的研發(fā)與質量控制需求，J-RAS 正式推出全新的 ECMr-500 系列離子遷移試驗裝置，一款融合兩大經(jīng)典機型技術優(yōu)勢、兼具高電壓與高采樣效率的新一代整合型設備。

 主要優(yōu)勢速覽

 最高 500V 電壓施加能力，滿足更高耐壓要求的遷移測試  

 16ms 高速同步采樣，全通道并行數(shù)據(jù)采集無延遲  

 高邊測量方式，大幅簡化樣品連接，提升測試效率與可靠性

 產(chǎn)品定位：整合創(chuàng)新，性能躍升

 ECMr-500 系列是 J-RAS 在離子遷移測試領域的技術集大成者。它融合了前代機型 ECM-100 的全通道高速同步采樣能力 與 ECM-500 的 500V 高電壓施加能力，真正實現(xiàn)了一機多能、性能不妥協(xié)的設計理念。

無論是用于 PCB、半導體、封裝材料，還是其他高絕緣材料的離子遷移測試，ECMr-500 都能提供穩(wěn)定、精準、可追溯的測試數(shù)據(jù)。

 核心技術參數(shù)一覽

 機箱型號與規(guī)格

 40CH 機箱：ECMr-500/40-n，最多安裝 4 個測量單元  

 100CH 機箱：ECMr-500/100-n，最多安裝 10 個測量單元  

 直流偏置電壓

 電壓量程：2 檔（1.0～30.0V / 30.1～500.0V）  

 設定分辨率：0.1V  

 設定精度：±（0.3%（F.S.）+ 0.5）V  

 最大輸出電流：700μA/CH  

 電流測量

 測量方式：通道獨立高邊電流測量  

 測量量程：5 檔（500μA / 50μA / 2.5μA / 125nA / 6.25nA）  

 測量分辨率：*低 1pA，顯示 4 位有效數(shù)字  

 測量速度：16ms / 10CH  

 數(shù)據(jù)記錄與控制

 測試時間：1 分鐘 ～ 9999 小時  

 記錄間隔：*低 16ms（ECM 模式）  

 記錄媒介：CF 卡  

 通信接口：Ethernet ×1、RS232C ×2  

 安全控制：無電壓接點輸入 ×4（互鎖/緊急停止）  

 適用場景與用戶價值

 ECMr-500 系列特別適用于以下應用場景：

 高電壓離子遷移測試（如汽車電子、功率模塊、高密度封裝）  

 多通道并行測試（如材料篩選、長期可靠性評估）  

 環(huán)境試驗箱聯(lián)動測試（溫濕度偏壓組合測試）  

 其高邊測量設計顯著降低了樣品接線的復雜度，支持通道單獨設定電壓與量程，極大提升了測試靈活性與效率。

 總結：為下一代電子可靠性而生

  J-RAS ECMr-500 系列不僅是一款離子遷移試驗裝置，更是一套面向未來電子元器件可靠性驗證的高性能平臺。它以 500V 高壓能力、16ms 高速采樣、最多100通道的擴展能力，為研發(fā)與質檢工程師提供了前*未有的測試自由度與數(shù)據(jù)精度。

如需了解更多產(chǎn)品信息、技術參數(shù)或樣機試用，歡迎聯(lián)系我們獲取詳細資料與技術支持。