高低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法
GB/T 2423.2-2001 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法
試驗(yàn)B：高溫 ：簡(jiǎn)介：本標(biāo)準(zhǔn)敘述的高溫試驗(yàn)適用于散熱和非散熱兩類試驗(yàn)樣品。
對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品，試驗(yàn)Ba和Bb基本上不違背早期發(fā)行的標(biāo)準(zhǔn)。本高溫試驗(yàn)的目的**于確定件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境條件下使用或貯存的適應(yīng)性。本高溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品的耐溫度變化性和在溫度變化期間的工作能力。在這種情況下。應(yīng)當(dāng)采用試驗(yàn)N:溫度變化試驗(yàn)方法。
高溫試驗(yàn)方法分為:非散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn):試驗(yàn)Ba:溫度突變(溫度沖擊試驗(yàn)箱);試驗(yàn)Bb，溫度交變(高低溫交變?cè)囼?yàn)箱)。散熱試驗(yàn)樣品高溫試驗(yàn):試驗(yàn)Bc:溫度突變(溫度沖擊試驗(yàn)箱);試驗(yàn)Bd:溫度交變(高低溫交變?cè)囼?yàn)箱)。本試驗(yàn)方法通常用于條件試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間是從試驗(yàn)樣品溫度達(dá)到穩(wěn)定時(shí)開(kāi)始計(jì)算。在特殊情況下，如果條件試驗(yàn)期間試驗(yàn)樣品達(dá)不到溫度穩(wěn)定。則試驗(yàn)持續(xù)時(shí)間從試驗(yàn)箱(室)達(dá)到規(guī)定試驗(yàn)溫度時(shí)開(kāi)始計(jì)算。相關(guān)規(guī)范應(yīng)規(guī)定:a)試驗(yàn)箱(室)內(nèi)溫度變化速率;b)試驗(yàn)樣品放入試驗(yàn)箱(室)的時(shí)間;c)試驗(yàn)樣品在試驗(yàn)條件下暴露開(kāi)始的時(shí)間;d)試驗(yàn)樣品通電或加負(fù)載的時(shí)間。對(duì)于這些情況，相關(guān)規(guī)范的制定者可根據(jù)GB/T2424.1-1989導(dǎo)則選定以上4個(gè)參數(shù)。
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