上海衡翼精密儀器有限公司
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閱讀：127發(fā)布時間：2024-7-16
芯片卡三輪反復(fù)循環(huán)測試機執(zhí)行標準：
1.GB/T 16649.1-2006《識別卡 帶觸點的集成電路卡 第1部分：物理特性》；
2.GB/T 17554.3-2006《識別卡 測試方法 第3部分:帶觸點的集成電路卡及其相關(guān)接口設(shè)備》；
3.ISO/IEC 7816-1-2011《Identification cards -- Integrated circuit cards -- Part 1: Cards with contacts -- Physical characteristics》
1.三輪測試儀型號：HY(SL)
2.測試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次
3.適用芯片面積≥4mm2.
4.向下施加壓力砝碼：1N、2N、3N、7N、8N 10N 12N 15N
5.輪之間軸平面角度≤2°
6.ICC測試速度≤100mm/s.
7.循環(huán)測試頻率：0.5HZ
8.測試標準參考: Mcd
9.CQM測試標準參考: P-22
10.測試方法參考: 10.3.22
11.CQM: 6.1.11-12.1.5.2 -16.1.18.2
12.電源: 110-220 V 50/60 Hz.
13.測試廠家：衡翼
原創(chuàng)作者：上海衡翼精密儀器有限公司
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