外觀檢測顯微鏡分析介紹

一、顯微鏡分析檢測簡介：

顯微鏡是我們實驗室常用的分析設(shè)備，成本低，操作簡單，成像清晰。反饋的是樣品的原貌。通常顯微鏡是用來做外觀的檢測和圖片留存。

外觀檢查就是目測或利用一些簡單儀器，如立體顯微鏡、金相顯微鏡甚至放大鏡等工具檢查樣品的外觀，尋找失效的部位和相關(guān)的物證，主要的作用就是失效定位和初步判斷樣品的失效模式。比如檢測一個PCB樣品，外觀檢查主要檢查PCB的污染、腐蝕、爆板的位置、電路布線以及失效的規(guī)律性、如是批次的或是個別，是不是總是集中在某個區(qū)域等等。另外，有許多PCB的失效是在組裝成PCBA后才發(fā)現(xiàn)，是不是組裝工藝過程以及過程所用材料的影響導致的失效也需要仔細檢查失效區(qū)域的特征。

顯微鏡分析檢測注意事項：需要做顯微鏡分析的樣品：寫清樣品情況，對放大倍率要求。顯微鏡分析屬于表面觀察，看不到內(nèi)部情況。

二、常用顯微鏡介紹：

金相顯微鏡OM

服務(wù)介紹：可用來進行器件外觀及失效部位的表面形狀，尺寸，結(jié)構(gòu)，缺陷等觀察。金相顯微鏡系統(tǒng)是將傳統(tǒng)的光學顯微鏡與計算機（數(shù)碼相機）通過光電轉(zhuǎn)換有機的結(jié)合在一起，不僅可以在目鏡上作顯微觀察，還能在計算機（數(shù)碼相機）顯示屏幕上觀察實時動態(tài)圖像，電腦型金相顯微鏡并能將所需要的圖片進行編輯、保存和打印。

服務(wù)范圍：可供研究單位、冶金、機械制造工廠以及高等工業(yè)院校進行金

屬學與熱處理、金屬物理學、煉鋼與鑄造過程等金相試驗研究之用

服務(wù)內(nèi)容：1.樣品外觀、形貌檢測  

          2.制備樣片的金相顯微分析

          3.各種缺陷的查找

體視顯微鏡OM

服務(wù)介紹：體視顯微鏡，亦稱實體顯微鏡或解剖鏡。是一種具有正像立體感的目視儀器，從不同角度觀察物體，使雙眼引起立體感覺的雙目顯微鏡。對觀察體無需加工制作，直接放入鏡頭下配合照明即可觀察，成像是直立的，便于操作和解剖。視場直徑大，但觀察物要求放大倍率在200倍以下。

服務(wù)范圍：電子精密部件裝配檢修，紡織業(yè)的品質(zhì)控制、文物 、郵票的

輔助鑒別及各種物質(zhì)表面觀察

服務(wù)內(nèi)容：1.樣品外觀、形貌檢測  

          2.制備樣片的觀察分析

          3.封裝開帽后的檢查分析

          4.晶體管點焊、檢查

三、顯微鏡的放大倍率確認：

1、光學總放大倍率=目鏡的倍率X物鏡放大倍率

2、數(shù)字總放大倍率=物鏡X攝像目鏡放大率X數(shù)字放大率

這公式對于任何一臺顯微鏡都合適，無論是金相顯微鏡，生物顯微鏡等等。

四、北京顯微鏡實驗室介紹：

北軟檢測芯片失效分析實驗室，能夠依據(jù)、國內(nèi)和行業(yè)標準實施檢測工作，開展從底層芯片到實際產(chǎn)品，從物理到邏輯全面的檢測工作，提供芯片預(yù)處理、側(cè)信道攻擊、光攻擊、侵入式攻擊、環(huán)境、電壓毛刺攻擊、電磁注入、放射線注入、物理安全、邏輯安全、功能、兼容性和多點激光注入等安全檢測服務(wù)，同時可開展模擬重現(xiàn)智能產(chǎn)品失效的現(xiàn)象，找出失效原因的失效分析檢測服務(wù)，主要包括點針工作站（Probe Station）、反應(yīng)離子刻蝕（RIE）、微漏電偵測系統(tǒng)（EMMI）、X-Ray檢測，缺陷切割觀察系統(tǒng)（FIB系統(tǒng)）等