詳細摘要： 磁學性能測量系統(tǒng)（型號MPMS3）/VSM測試/MH曲線測試
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廣州化聯(lián)質(zhì)量檢測技術(shù)有限公司
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詳細摘要： 規(guī)格/型號*/VarioELCube生產(chǎn)廠商德國Elementar公司性能指標：測定模式：元素分析：C、H、N、O、S百分含量測定范圍：C：0-40mg含量
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詳細摘要： X射線熒光光譜儀(XRF) 型號：荷蘭 帕納科 AXIOS
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詳細摘要： 適用領域廣泛應用于材料、化學、物理、地質(zhì)、地理、環(huán)境、生物、醫(yī)學、金屬、半導體、高分子、陶瓷等學科及領域主要功能TEM形貌觀察及HRTEM
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詳細摘要： 生產(chǎn)廠商：德國卡爾蔡司公司技術(shù)指標：Sigma500是熱場發(fā)射的掃描電鏡
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詳細摘要： 介紹：AutoPoreIV系列壓汞儀使用汞侵入法來測定總孔體積、孔徑分布、孔隙率、密度和傳輸性
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詳細摘要： 應用： 應用于科研和工業(yè)界各領域，涵蓋了聚合物材料表征，集成光路測量，材料力學性能表征，MEMS制造，金屬/合金/金屬蒸鍍的性質(zhì)研究，液晶材料性能表征，分子器...
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詳細摘要： 分析儀器儀器名稱：FLS980穩(wěn)態(tài)/瞬態(tài)熒光光譜儀(FLS980SeriesofFluorescenceSpectrometers)儀器型號：FLS980儀器縮...
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詳細摘要： 主要功能及應用范圍：吸附劑(如分子篩，活性炭，沸石等)
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詳細摘要： 1.儀器設備簡介BrukerD8Advance采用當前的技術(shù)，能夠精確地對金屬和非金屬多晶樣品進行物相定性、定量分析
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詳細摘要： 主要性能參數(shù)：1．靈敏度 7×109spins/0.1mT2．分辨率 ≤2.35Torbetter3．微波頻率 8.75–9.65GHz(X-band)4．微波...
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詳細摘要： 原理X射線光電子能譜（XPS），基于光電離作用，當一束光子輻射到樣品表面時，光子可以被樣品中某一元素的原子軌道上的電子所吸收，使該原子解脫原子核的束縛，以一定的...
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