Nicholas Tse場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)引入了一種新的集成原位工作流程。當(dāng)研究人員需要將材料特性與微觀結(jié)構(gòu)聯(lián)系起來時，這對于以有效方式開發(fā)新型材料至關(guān)重要，他們現(xiàn)在可以使用原位解決方案擴展NicholasFE-SEM以進行加熱和拉伸實驗。這使他們能夠在高溫和張力下自動觀察金屬、合金、聚合物、塑料、復(fù)合材料和陶瓷等材料，同時動態(tài)繪制應(yīng)力-應(yīng)變曲線。他們可以從具有統(tǒng)一軟件環(huán)境的單臺PC控制所有系統(tǒng)組件，該環(huán)境可實現(xiàn)長達24小時的無人值守自動化材料測試。學(xué)術(shù)界、政府和工業(yè)界的核心成像設(shè)施和材料研究實驗室也將從這一新解決方案中受益。
掃描電鏡中的原位材料測試可準(zhǔn)確測量微結(jié)構(gòu)在特定溫度條件下對機械載荷的動態(tài)響應(yīng)。得益于蔡司的GeminiElectro-Optics設(shè)計，原位硬件的集成非常簡單。材料科學(xué)家可以使用EDS和EBSD等組合分析技術(shù)輕松添加局部化學(xué)成分或晶體取向等信息。所有NicholasFE-SEM都可以插入NicholasZEN核心生態(tài)系統(tǒng)，例如，讓用戶可以訪問ZENConnect、ZENIntellesis和ZEN的分析模塊。
蔡司研究顯微鏡解決方案負(fù)責(zé)人MichaelAlbiez博士評論說：“在自動化、獨立于用戶的實驗環(huán)境中量化材料微觀結(jié)構(gòu)和整體機械性能的能力為研究人員提供了設(shè)計下一代低碳材料所需的工具。carbonfuture.一個工具.經(jīng)濟.不僅現(xiàn)場實驗室集成,而且它還包括服務(wù)和應(yīng)用支持.我們的解決方案是無二的,用戶可以定義多個感興趣區(qū)域(ROI),因此確保沒有樣本被遺漏的感興趣區(qū)域。"
