XK-XPL-3230透反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對(duì)具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的儀器,可供廣大用戶進(jìn)行單偏光觀察,正交偏光觀察,錐光觀察。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、化工、醫(yī)療、藥品等領(lǐng)域的研究與檢驗(yàn),也可進(jìn)行液態(tài)高分子材料,生物聚合物及液晶材料的晶相、粒徑觀察,是科研機(jī)構(gòu)與高等院校進(jìn)行研究與教學(xué)的理想儀器。
性能特點(diǎn)
▲ 采用無(wú)限遠(yuǎn)光學(xué)系統(tǒng)及模塊化功能設(shè)計(jì)。
▲ 配置無(wú)窮遠(yuǎn)無(wú)應(yīng)力長(zhǎng)工作距離平場(chǎng)物鏡。
▲ 廣角平場(chǎng)目鏡:視場(chǎng)直徑Ф22mm。
▲ 粗微動(dòng)同軸調(diào)焦機(jī)構(gòu),粗動(dòng)松緊可調(diào),帶限位鎖緊裝置,微動(dòng)格值:2μm。
▲ 偏光觀察裝置可移入或移出光路,起偏器與檢偏器均可360°旋轉(zhuǎn)。
▲ 旋轉(zhuǎn)式載物臺(tái),360°等分刻度,游標(biāo)格值6',中心可調(diào),帶鎖緊裝置,工作臺(tái)垂直有效行程可達(dá) 30mm。
▲ 寬電壓電源(85-265V 50/60Hz). 6V30W鹵素?zé)粽彰鳎炼瓤烧{(diào)。
▲ 三目鏡筒可自由切換目視觀察與顯微攝影,攝影時(shí)可99%通光,適合低照度顯微圖像拍攝。










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