XRF2000鍍層測(cè)厚儀
檢測(cè)電子電鍍,化學(xué)鍍層厚度,如鍍金,鍍鎳,鍍銅,鍍鉻,鎳鋅,鍍銀,鍍鈀...
可測(cè)單層,雙層,多層,合金鍍層,
測(cè)量范圍:0.04-35um
測(cè)量精度:±5%,測(cè)量時(shí)間只需30秒便可準(zhǔn)確知道鍍層厚度
全自動(dòng)臺(tái)面,操作非常方便簡單
● 熒光X-射線儀器的測(cè)量原理
物質(zhì)經(jīng)X射線或粒子射線照射后，由于吸收多余的能量而變成不穩(wěn)定的狀態(tài)。從不穩(wěn)定狀態(tài)要回到穩(wěn)定狀態(tài)，此物質(zhì)必需將多余的能量釋放出來，而此時(shí)是以熒光或光的形態(tài)被釋放出來。熒光X射線鍍層厚度測(cè)量儀或成分分析儀的原理就是測(cè)量這被釋放出來的熒光的能量及強(qiáng)度，來進(jìn)行定性和定量分析
應(yīng)用實(shí)例圖示
| （1）單鍍層：Ag/xx | | （2）合金鍍層：Sn-Pb/xx | | （3）雙鍍層：Au/Ni/xx |
| Ag | | Sn-Pb | | Au |
| 底材 | | 底材 | | Ni |
| | | | | 底材 |
| | | | | |
| （4）合金鍍層：Sn-Bi/xx | | （5）三鍍層：Au/Pd/Ni/xx | | （6）化學(xué)鍍層：Ni-P/xx |
| Sn-Bi | | Au | | Ni-P |
| 底材 | | Pd | | 底材 |
| | | Ni | | |
| | | 底材 | |
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