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絕緣高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀

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產(chǎn)品型號GDAT-A

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更新時間：2025-09-07 14:00:02瀏覽次數(shù)：124次

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產(chǎn)品簡介

絕緣高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀

詳細介紹

絕緣高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀裝置：

2.3.1 平板電容器極片尺寸：:Φ38mm和Φ50mm二種.
2.3.2 平板電容器間距可調范圍和分辨率：0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圓筒電容器線性： 0.33 pF /mm±0.05 pF,
2.3.4 圓筒電容器可調范圍：±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 裝置插頭間距：25mm±0.1mm
2.3.6 裝置損耗角正切值:≤2.5×10-4

絕緣高頻介電常數(shù)介質損耗測試儀主要技術指標：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固體絕緣材料測試頻率10kHz～120MHz的tanδ和ε變化的測試。

2.1.2 tanδ和ε測量范圍：

tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε測量精度（1MHz）：

tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

工作頻率范圍：50kHz～50MHz 四位數(shù)顯，壓控振蕩器

Q值測量范圍：1～1000三位數(shù)顯，±1Q分辨率

可調電容范圍：40～500 pF ΔC±3pF

電容測量誤差：±1%±1pF

Q表殘余電感值：約20nH

特點：

◎ 本公司創(chuàng)新的自動Q值保持技術，使測Q分辨率至0.1Q，使tanδ分辨率至0.00005 。

◎ 能對固體絕緣材料在10kHz～120MHz介質損耗角(tanδ)和介電常數(shù)(ε)變化的測試。

◎ 調諧回路殘余電感值低至8nH，保證100MHz的(tanδ)和(ε)的誤差較小。

◎ 特制LCD屏菜單式顯示多參數(shù)：Q值，測試頻率，調諧狀態(tài)等。

◎ Q值量程自動/手動量程控制。

◎ DPLL合成發(fā)生1kHz～60MHz, 50kHz～160MHz測試信號。獨立信號源輸出口，所以本機又是一臺合成信號源。

◎ 測試裝置符合國標GB/T 1409-2006,美標ASTM D150以及IEC60250規(guī)范要求。

直接測量范圍

1～460p

主電容調節(jié)范圍

40～500pF

準確度

150pF以下±1.5pF；

150pF以上±1%

頻率范圍	25kHz～10MHz
固有誤差	≤5％±滿度值的2%
工作誤差	≤7％±滿度值的2%
頻率范圍	10MHz～60MHz
固有誤差	≤6％±滿度值的2%
工作誤差	≤8％±滿度值的2%