高壓加速壽命試驗機又稱 PCT/HAST 試驗箱，是電子半導(dǎo)體行業(yè)關(guān)鍵可靠性檢測設(shè)備，通過密閉壓力容器營造高溫、高壓、高濕耦合環(huán)境，大幅加速水汽滲透，快速暴露產(chǎn)品潛在失效缺陷，替代漫長的自然老化驗證，廣泛用于 IC 芯片、PCB 線路板、連接器、汽車電子、磁性材料、LED 封裝等產(chǎn)品的耐濕密封性能檢測。

高壓加速壽命試驗機設(shè)備主要由壓力容器內(nèi)膽、蒸汽加熱系統(tǒng)、壓力調(diào)控模塊、智能控制系統(tǒng)與安全防護組件構(gòu)成，分為飽和 PCT 與非飽和 HAST 兩種模式，可精準(zhǔn)控制溫度、壓力、濕度參數(shù)，部分機型支持偏壓通電測試，滿足 JESD22?A102、GB/T4937.40 等行業(yè)規(guī)范要求。內(nèi)膽采用防結(jié)露結(jié)構(gòu)，避免冷凝水滴落干擾試樣，多重聯(lián)鎖保護保障高壓工況運行安全，整機運行穩(wěn)定，試驗重復(fù)性好。

相比傳統(tǒng)雙 85 濕熱試驗，該設(shè)備放大濕熱應(yīng)力效應(yīng)，將數(shù)月甚至數(shù)年的自然老化壓縮至幾十小時完成，可有效檢測封裝漏氣、分層脫層、金屬腐蝕、絕緣劣化等失效現(xiàn)象。試驗結(jié)束后可觀測試樣外觀、電性參數(shù)變化，評估材料與封裝工藝的可靠性水平。

該設(shè)備服務(wù)于企業(yè)研發(fā)、來料驗證與第三方檢測實驗室，幫助研發(fā)人員定位材料、工藝短板，優(yōu)化封裝配方與結(jié)構(gòu)設(shè)計，規(guī)避產(chǎn)品在濕熱環(huán)境下的早期失效風(fēng)險，是半導(dǎo)體、車載電子領(lǐng)域品質(zhì)管控不可少的試驗裝備。