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全反射 X 射線熒光光譜儀表面污染計量測量離散點的元素污染或使用完整的晶圓圖
Rigaku 的 ZSX Primus 400 連續(xù)波長色散 X 射線熒光 (WDXRF) 光譜儀專為處理非常大或重的樣品而設(shè)計。
日本理學全反射 X 射線熒光光譜儀TXRF-V310通過 VPD-TXRF 進行晶圓表面污染測量超痕量元素表面污染的測量
理學臺式X射線衍射儀系統(tǒng)將重新定義你所認為的X射線衍射儀方式。
波長色散X射線熒光光譜儀WDA-3650用于薄膜評估的X射線熒光分析儀同時對各種薄膜的薄膜厚度和成分進行無損、非接觸式分析
日本理學SmartLab帶制導軟件的自動多用途X射線衍射儀（XRD）粉末衍射、薄膜計量、SAXS、面內(nèi)散射、操作測量
40 多年來，日本理學Simultix 15波長色散X射線熒光光譜儀系統(tǒng)已被廣泛用作需要高吞吐量和精度的行業(yè)（例如鋼鐵和水泥）過程控制的元素分析工具
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