深圳市樂(lè)世達(dá)精密檢測(cè)儀器有限公司
| 參 考 價(jià) | 面議 |
產(chǎn)品型號(hào)MiniTest 730 FN1.5
品 牌
廠商性質(zhì)代理商
所 在 地深圳市
聯(lián)系方式:梁超查看聯(lián)系方式
更新時(shí)間:2025-12-10 07:59:17瀏覽次數(shù):46次
聯(lián)系我時(shí),請(qǐng)告知來(lái)自 儀表網(wǎng)德國(guó)EPKMiniTest730FN1.5涂層測(cè)厚儀產(chǎn)品名稱:涂層測(cè)厚儀(涂鍍層測(cè)厚儀)規(guī)格型號(hào):MiniTest730FN1.5品牌廠家:德國(guó)EPKMiniTest730系列:統(tǒng)計(jì)型
| MiniTest 730 F 1.5 | 鐵基涂層,0...1500 µm |
| MiniTest 730 N 07 | 非鐵基涂層,0...700 µm |
| MiniTest 730 FN 1.5 | 兩用型,0...1500 µm (F),0...700 µm (N) |
| MiniTest 730 F2 | 鐵基涂層,0...2000 µm |
| MiniTest 730 F5 | 鐵基涂層,0...5000 µm |
| MiniTest 730 N 2.5 | 非鐵基涂層,0...2500 µm |
| MiniTest 730 FN 5 | 兩用型,0...5000 µm (F),0...2500 µm (N) |
| MiniTest 730 F15 | 鐵基涂層,0...15 mm |
| 型號(hào) 特性 | MiniTest 720 | MiniTest 730 | MiniTest 740 | ||
| 探頭類型 | 內(nèi)置 | 外置 | 內(nèi)置外置可換 | ||
| 數(shù)據(jù)記憶組數(shù) | 10 | 10 | 100 | ||
| 存儲(chǔ)數(shù)據(jù)量 | ***多10,000個(gè) | ***多10,000個(gè) | ***多100,000個(gè) | ||
| 統(tǒng)計(jì)值 | 讀值個(gè)數(shù),***小值,***大值,平均值,標(biāo)準(zhǔn)方差,變異系數(shù),組統(tǒng)計(jì)值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) | ||||
| 校準(zhǔn)程序符合國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 | ISO,SSPC,瑞典標(biāo)準(zhǔn),澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) | ||||
| 校準(zhǔn)模式 | 出廠設(shè)置校準(zhǔn),零點(diǎn)校準(zhǔn),2點(diǎn)校準(zhǔn),3點(diǎn)校準(zhǔn),使用者可調(diào)節(jié)補(bǔ)償值 | ||||
| 極限值監(jiān)控 | 聲、光報(bào)警提示超過(guò)極限 | ||||
| 測(cè)量單位 | um,mm,cm;mils,inch,thou | ||||
| 操作溫度 | -10℃-60℃ | ||||
| 存放溫度 | -20℃-70℃ | ||||
| 數(shù)據(jù)接口 | IrDA 1.0(紅外接口) | ||||
| 電源 | 2節(jié)AA電池 | ||||
| 標(biāo)準(zhǔn) | DIN EN ISO 1461,2064,2178,2360,2808,3882,19840 ASTM B244,B499,D7091,E376 AS 3894.3,SS 1841 60,SSPC-PA 2 | ||||
| 體積 | 157mm x 75.5mm x 49mm | ||||
| 重量 | 約175g | 約210g | 約175g(內(nèi)置)/230g(外置) | ||
| 探頭 特性 | F1.5,N0.7,F(xiàn)N1.5 | F2 | F5,N2.5,F(xiàn)N5 | F15 | ||
| F | N | F | F | N | F | |
| 測(cè)量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
| 使用范圍 | 小工件,薄涂層,跟測(cè)量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標(biāo)準(zhǔn)探頭,使用廣泛 | 厚涂層 | ||
| 測(cè)量原理 | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) | 磁感應(yīng) | 電渦流 | 磁感應(yīng) |
| 信號(hào)處理 | 探頭內(nèi)部32位信號(hào)處理(SIDSP) | |||||
| 精確度 | ±(1μm+0.75%讀值) | ±(1.5μm+0.75%讀值) | ±(5μm+0.75%讀值) | |||
| 重復(fù)性 | ±(0.5μm+0.5%讀值) | ±(0.8μm+0.5%讀值) | ±(2.5μm+0.5%讀值) | |||
| 低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
| ***小曲率半徑(凸) | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
| ***小曲率半徑(凹,外置探頭) | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
| ***小曲率半徑(凹,內(nèi)置探頭) | 30mm | 30mm | 30mm | |||
| ***小測(cè)量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
| ***小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
| 連續(xù)模式下測(cè)量速度 | 每秒20個(gè)讀數(shù) | |||||
| 單值模式下***大測(cè)量速度 | 每分鐘70個(gè)讀數(shù) | |||||
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