TSD/TSM/TSDM系列溫度沖擊試驗箱
溫度沖擊試驗箱主要用于設備零部件、汽車配件、金屬制品、化工材料、電子芯片、高分子材料等相關行業(yè)*的檢測設備，可用于測試材料或元器件在瞬間的高溫或低溫連續(xù)的環(huán)境下物理性能的可靠性，也可以用于環(huán)境應力篩選（溫度循環(huán)）、高/低溫環(huán)境適應性和可靠性試驗，對各種大型電工電子產(chǎn)品用于發(fā)現(xiàn)早期故障、模擬實際溫度與快溫變環(huán)境和考核產(chǎn)品耐受溫度的能力。
我公司生產(chǎn)的溫度沖擊試驗箱分為三種類型：兩廂式、三廂式和兩廂移動三溫區(qū)。主要的區(qū)別在于試驗方法、樣架移動方式及內部結構，可適用于多種使用條件及不同行業(yè)用戶的需求。
滿足如下試驗方法：
GB2423.1-08 試驗A：低溫試驗方法
GB2423.2-08試驗B：高溫試驗方法
GJB150A.5-09 溫度沖擊試驗
產(chǎn)品執(zhí)行標準：
GB10589-2008 低溫試驗箱技術條件
GB11158-2008 高溫試驗箱技術條件
GB10592-2008 高低溫試驗箱技術條件